PHI Genesis

Microsonda XPS/HAXPES multitécnica

El sistema más avanzado y automatizado del mercado

PHI Genesis representa la nueva generación en análisis de superficies mediante XPS y HAXPES. Su tecnología combina microsonda XPS de barrido, automatización total, perfilado de profundidad optimizado y capacidades multitécnicas en una única plataforma de laboratorio, ofreciendo una alternativa real a las instalaciones sincrotrón.

Un instrumento versátil, modular y personalizable.

Admite múltiples fuentes de excitación, sputtering por iones, y herramientas de análisis complementario, permitiendo una caracterización avanzada en investigación y control de calidad.

Automatización total y navegación avanzada

Precisión sin intervención manual

  • Navegación tipo SEM con microsonda X de barrido. Permite apuntar y hacer clic para seleccionar la zona exacta de análisis.
  • SmartMosaic para navegación SXI y mapeo químico. Visualiza e identifica regiones químicamente diferenciadas a gran escala.
  • Imágenes SXI para correlación exacta entre imagen y espectro. El sistema relaciona automáticamente zonas de interés con datos espectroscópicos.
  • Registro automatizado de microáreas sin supervisión. Ideal para rutinas repetitivas o análisis de alta precisión.

Análisis superior de películas delgadas

Caracterización completa desde la superficie hasta capas profundas

  • Perfilado de profundidad multipunto no destructivo. Realiza análisis dentro de un mismo cráter con mínima alteración de la muestra.
  • Platina de 4 ejes con inclinación, rotación y control térmico. Permite adaptar la muestra a diversas condiciones analíticas.
  • Análisis a baja temperatura o calentamiento controlado. Ideal para estudios térmicos y reacciones in situ.
  • Tamaño de microsonda <5 µm con fuente Al y <14 µm con Cr. Una de las resoluciones más altas del mercado para áreas pequeñas.

Capacidad de HAXPES en laboratorio

Fuente de rayos X de Cr para HAXPES

Proporciona una profundidad analítica 3 veces mayor que el XPS estándar.

Ideal para estructuras enterradas o multicapas complejas

Minimiza los efectos de la contaminación superficial y el daño químico.

Conjunto de soluciones

Más allá del XPS: análisis electrónico y electroquímico

  • Estudios UPS, LEIPS y REELS desde el mismo punto. Caracteriza la estructura de bandas en materiales orgánicos e inorgánicos.
  • Capacidades electroquímicas integradas. Compatible con experimentos de polarización para análisis de materiales funcionales.
  • Recipiente inerte para transferencia de muestras. Preserva la integridad de la muestra entre análisis.
  • Espectroscopía Auger integrada con mapeo elemental preciso. Identificación puntual exacta en análisis combinados con XPS.