Espectroscopía Auger

PHI-710

La espectroscopía electrónica de barrena (AES) proporciona información cuantitativa del estado elemental y químico de las superficies de los materiales sólidos. La profundidad de análisis promedio para una medición de AES es de aproximadamente 5 nm. Los instrumentos físicos de la barrena electrónica proporcionan la capacidad de obtener espectros con una resolución espacial lateral tan pequeña como 8 nm. La información de distribución espacial se obtiene escaneando el haz de electrones micro enfocado a través de la superficie de la muestra. La información de distribución de profundidad se obtiene combinando mediciones AES con molienda iónica (sputtering) para caracterizar una estructura de película delgada. La información que proporciona AES sobre las capas superficiales o las estructuras de película delgada es importante para muchas aplicaciones industriales y de investigación en las que la composición de la película superficial o delgada juega un papel crítico en el rendimiento, incluidos: nanomateriales, fotovoltaica, catálisis, corrosión, adhesión, dispositivos semiconductores y embalaje, medios magnéticos , tecnología de visualización y recubrimientos de película delgada utilizados para numerosas aplicaciones.

AES se logra excitando la superficie de una muestra con un haz de electrones finamente enfocado que hace que se emitan electrones Auger desde la superficie. Se utiliza un analizador de energía electrónica para medir la energía de los electrones Auger emitidos. A partir de la energía cinética y la intensidad de un pico Auger, se puede determinar la identidad elemental y la cantidad de un elemento detectado. En algunos casos, la información del estado químico está disponible desde la posición del pico medida y la forma del pico observado.