Plataforma de de terahercios para materiales, películas finas y 2D

Onyx
Plataforma de investigación de terahercios para materiales a granel, películas finas y 2DOnyx

El primer sistema del mercado diseñado para proporcionar una caracterización eléctrica no destructiva de área completa de:

Grafeno
Películas finas
otros materiales 2D

Onyx cubre el hueco entre las herramientas de macro y nano escala caracterizando desde 0,5 mm² hasta grandes áreas (m²), potenciando la industrialización de los materiales de investigación.
En comparación con otros métodos de gran superficie, como los métodos de cuatro sondas, Onyx es capaz de medir la distribución espacial de la calidad de la muestra. La resolución espacial, del orden de unos cientos de micras, permite la caracterización rápida de grandes áreas de muestra, a diferencia de métodos microscópicos como Raman, SEM y TEM.

das-Nano tiene 19 patentes en distintos campos tecnológicos, como la tecnología de terahercios, la inteligencia artificial y la nanotecnología. De estas patentes, 12 protegen explícitamente las innovaciones realizadas en el campo de la tecnología de terahercios.
El sistema Onyx cumple la especificación técnica IEC TS 62607-6-10:2021, publicada por la Comisión Electrotécnica Internacional (CEI). La norma IEC TS 62607-6-10:2021 trata de la medición de la resistencia de láminas de materiales basados en grafeno mediante espectroscopia terahertz en el dominio del tiempo.

Actualización y mejora de sus funciones

Onyx está continuamente mejorando sus características, ofreciendo nuevos resultados y aumentando enormemente su potencial. Ahora, su versión 4.0 incorpora dos nuevos modelos de caracterización a sus capacidades anteriores: Semiconductor Thin Film Model y Two-Thickness Substrate Model. Estas nuevas características amplían la versatilidad del sistema y lo convierten en una plataforma ideal para investigar una variedad aún mayor de materiales.

En una sola medición, el sistema es capaz de proporcionar con precisión las siguientes propiedades físicas

Conductancia de la lámina
Resistencia de lámina
Movilidad de los portadores de carga
Densidad de portadores de carga
Índice de refracción

Parámetros dieléctricos, ε’ y ε»
Potencia absorbida
Características de frecuencia única

Onyx en el proyecto GRACE
Desarrollo de métodos de caracterización eléctrica para la futura electrónica del grafeno.

Características

Inspección de uniformidad y homogeneidad
Conductancia y resistencia eléctricas
Movilidad eléctrica y densidad portadora
Control de calidad de la muestra completa
Emisor/receptor T-Wave codesarrollado con el Instituto Fraunhofer
Tamaño de la muestra: Tamaño de la muestra: de 1×1 mm a 200×200 mm (8″)
Área de inspección personalizable (hasta m²)

• Non-destructive analysis
• Ultra-Fast – 12 cm²/min
• HD optical camera
• Single side inspection
• No need for sample preparation
• 3 axis automatic positioning system
• Robust, full aluminum body