El espectrómetro de masas MS/MS de imagen paralela patentado por PHI proporciona una sensibilidad superior, un bajo fondo espectral, una capacidad única para obtener imágenes de superficies altamente topográficas, una alta precisión y resolución de masas, y una identificación inequívoca de picos con capacidad de imagen MS en tándem paralela. El PHI nanoTOF 3 puede configurarse con una amplia variedad de opciones para optimizar el rendimiento para materiales orgánicos, inorgánicos o ambos, en función de los requisitos del cliente.
NUEVA neutralización de carga pulsada de doble haz para un análisis de aislantes verdaderamente llave en mano
Neutralización de carga autorregulada mediante electrones de baja energía e iones de gas inerte de baja energía
Obtención de imágenes químicas sin artefactos mediante la neutralización de las cargas superficiales dependientes de la posición
NUEVO emisor Bi Cluster con un diámetro de haz más pequeño para mejorar la obtención de imágenes HR2 de alto rendimiento
El modo de análisis más utilitario con caracterización química < 500 nm
La imagen HR2 se obtiene con una corriente de haz de análisis alta, por lo que el tiempo de análisis es corto.
No es necesaria la extracción retardada (DE), por lo que se evitan completamente los artefactos de la DE
Análisis químico y molecular fiable de muestras curvas, rugosas y cargadas
Aceptación angular y profundidad de campo superiores del espectrómetro de masas
Imágenes químicas sin artefactos de muestras seccionadas por FIB ex situ e in situ
Imagen superior de materiales mediante la corrección del potencial de superficie dependiente de la posición
No es necesaria la extracción retardada (DE), por lo que se evitan por completo los artefactos de la DE
NUEVA platina automatizada y estacionamiento en vacío para manipulación de muestras de alto rendimiento y análisis desatendido
Equipado con un mecanismo automático de transferencia de muestras que se ha probado en más de 300 instrumentos XPS de la serie Q
Tamaños de muestra de hasta 100 mm x 100 mm, y la cámara de análisis lleva incorporado de serie un mecanismo de estacionamiento
Combinado con el editor de colas, el sistema permite realizar mediciones automatizadas continuas de un gran número de muestras
Espectrómetros de masas en tándem para imágenes rápidas e identificación precisa de picos
Nunca se descarta ningún dato; imágenes TOF-SIMS (MS1) y MS en tándem (MS2) integradas y sin complicaciones
Transmisión ultraalta para optimizar la sensibilidad molecular y el análisis de monocapas
Imágenes TOF-SIMS (MS1) y MS en tándem (MS2) de alta velocidad (> 8 kHz)
Imágenes TOF-SIMS (MS1) y MS en tándem (MS2) de alta resolución (< 100 nm)
Disociación inducida por colisión de alta energía (> 1,5 keV) (keV-CID) para identificación
Soluciones para la caracterización in situ de materiales avanzados
Todos los modos de funcionamiento disponibles para análisis automatizados y desatendidos
Análisis criogénico y a alta temperatura mediante las opciones de los módulos Hot/Cold y High-Temperature; el movimiento completo de la muestra en 5 ejes se mantiene durante el análisis a temperatura controlada
Imágenes 3D avanzadas con el uso de haces de iones opcionales de Ar, O2, Cs, C60, Ar cluster y Ga-FIB
Experimentos electroquímicos en estado sólido (polarización, polarización) con la opción Static Voltage & Power Cycling.
Opciones de recipiente de transferencia de muestras inertes y adaptador de recipiente de transferencia (disco AES/XPS de 25 mm)
https://www.phi.com/surface-analysis-equipment/nanotof.html#resources
Para ampliar información info@irida.es
