AFM Park NX20 Large Sample
La primera opción para el Análisis de fallos
La herramienta líder de nano metrología para el análisis de fallos y la investigación de grandes muestras
Como ingeniero de AF, se espera que ofrezca resultados. No hay lugar para el error en los datos proporcionados por sus instrumentos. El Park NX20, con su reputación de ser el AFM de muestras grandes más preciso del mundo, está muy bien valorado en la industria de los semiconductores y los discos duros por su precisión de datos.
Soluciones de análisis de fallos más potentes
El Park NX20 está equipado con características únicas que facilitan el descubrimiento de las razones detrás de los fallos de los dispositivos y el desarrollo de soluciones más creativas. Su incomparable precisión proporciona datos de alta resolución que le permiten centrarse en su trabajo, mientras que su modo de escaneado True Non-Contact™ mantiene las puntas más afiladas y durante más tiempo, por lo que no tendrá que perder tanto tiempo y dinero en sustituirlas.
Fácil de usar, incluso para ingenieros de nivel básico
Park NX20 tiene uno de los diseños e interfaces automatizados más fáciles de usar del sector, por lo que no tendrá que dedicar tanto tiempo y energía a utilizar la herramienta y a supervisar a los ingenieros noveles con el sistema. Esto le permite centrar su experiencia en la resolución de problemas más importantes y en proporcionar un análisis de fallos perspicaz y oportuno a sus clientes.
