AFM Park NX20 Lite Large Sample
El sistema de AFM más asequible para la medición y el análisis de obleas con las últimas prestaciones de NX
Aumente su productividad con nuestro potente y versátil AFM
El Park NX20 Lite incluye muchas capacidades únicas que lo hacen ideal para los laboratorios compartidos que manejan una gama diversa de muestras, los investigadores que realizan experimentos con múltiples variantes y los ingenieros de análisis de fallos que trabajan en obleas. Su precio razonable y su robusto conjunto de características también lo convierten en uno de los AFM de muestras grandes con mejor relación calidad-precio de la industria.
Las mediciones de muestras más cómodas con el escáner multimuestra
Captación automatizada de múltiples muestras en una sola pasada
Plato de muestras múltiples especialmente diseñado para la carga de hasta 16 muestras individuales (disponible opcionalmente)
La platina de muestras XY totalmente motorizada se desplaza hasta 150 mm x 150 mm
Escaneo XY preciso mediante la eliminación de la diafonía
Dos escáneres de flexión XY y Z independientes y de bucle cerrado
Escaneo XY plano y ortogonal con bajo arco residual
Mediciones de altura más precisas gracias al controlador electrónico NX sin necesidad de procesar el software
Mejor duración de la punta, resolución y conservación de la muestra gracias al modo True Non-Contact™.
Rápida velocidad del servo Z que permite el modo True Non-Contact™.
Desgaste mínimo de la punta para obtener imágenes prolongadas de alta calidad y alta resolución
Gama versátil de modos y opciones
Amplio conjunto de modos de medición y caracterizaciones
Capacidades ampliadas con accesorios y actualizaciones opcionales
Mediciones eléctricas avanzadas para el análisis de fallos (FA)
Las mediciones de muestras más cómodas con MultiSample™ scan
Sistema de escaneado Park NX20 Lite MultiSample™.
Imagen automatizada de múltiples muestras en una sola pasada
Plato multimuestra especialmente diseñado para la carga de hasta 16 muestras individuales
La platina de muestras XY totalmente motorizada se desplaza hasta 150 mm x 150 mm
Utilizando la platina de muestras motorizada, MultiSample Scan™ permite la obtención de imágenes de múltiples regiones programables en la automatización de paso y exploración.
Así es como funciona:
1. Registra múltiples posiciones de escaneo definidas por un usuario
2. Obtenga imágenes desde la primera posición de escaneo
3. Levantar un voladizo
4. Mover la platina motorizada a la siguiente coordenada definida por el usuario
5. Acercarse a
6. Repetir la exploración
El registro de múltiples posiciones de escaneado se realiza fácilmente introduciendo las coordenadas de la platina de la muestra o desviando la muestra por dos puntos de referencia. Esta función automatizada aumenta enormemente la productividad al reducir la necesidad de su interacción durante el proceso de escaneado.
NX20 Lite afm sys
Escaneado XY ortogonal plano sin arco de escáner
La estructura del escáner Park Crosstalk Elimination elimina el arco del escáner, lo que permite una exploración XY plana y ortogonal independientemente de la ubicación, la velocidad y el tamaño del escáner. No muestra ninguna curvatura de fondo ni siquiera en las muestras más planas, como un plano óptico, y con varios desplazamientos de exploración. Esto le proporciona una medición de altura muy precisa y nanometrología de precisión para los problemas más desafiantes en investigación e ingeniería.
Escáneres XY y Z desacoplados
La diferencia fundamental entre Park y su competidor más cercano está en la arquitectura del escáner. El exclusivo diseño de escáner XY y Z independiente basado en la flexión permite una precisión de datos inigualable en nano resolución, mejorada además con el cabezal NX AFM (escáner Z) accionado por el controlador electrónico NX AFM.
