AFM Park NX7 Small Samples

El AFM de grado de investigación más asequible con manejo flexible de muestras

El Park NX7 tiene toda la tecnología de punta que usted espera de Park Systems, a un precio que su laboratorio puede pagar. Diseñado con la misma atención al detalle que nuestros modelos más avanzados, el NX7 le permite hacer su investigación a tiempo y dentro del presupuesto.

Escaneo XY preciso mediante la eliminación de la diafonía

Dos escáneres de flexión XY y Z independientes y de bucle cerrado
Escaneo XY plano y ortogonal con bajo arco residual
Mediciones de altura precisas sin necesidad de procesamiento de software

La solución de AFM más ampliable

La gama más completa de modos de SPM
Los modos avanzados de medición nanomecánica están soportados por defecto por el controlador electrónico NX
La mejor compatibilidad de opciones y capacidad de actualización del sector

Características de software y hardware orientadas a la experiencia del usuario

Acceso lateral abierto para facilitar el intercambio de muestras o puntas
Alineación láser fácil e intuitiva con montaje de puntas prealineadas
Park SmartScanTM: software de funcionamiento del AFM lo suficientemente versátil como para capacitar tanto a los principiantes como a los usuarios avanzados para realizar una gran investigación a nanoescala

Exploración XY ortogonal plana sin arco del escáner

La estructura del escáner de eliminación de diafonía de Park elimina el arco del escáner, lo que permite una exploración XY ortogonal plana independientemente de la ubicación, la velocidad y el tamaño del escáner. No muestra ninguna curvatura de fondo ni siquiera en las muestras más planas, como un plano óptico, y con varios desplazamientos de exploración. Esto le proporciona una medición de altura muy precisa y nanometrología de precisión para los problemas más desafiantes en investigación e ingeniería.
Escáneres XY y Z desacoplados

La diferencia fundamental entre Park y su competidor más cercano está en la arquitectura del escáner. El exclusivo diseño de escáner XY y Z independiente basado en la flexión permite una precisión de datos inigualable en nano resolución, mejorada además con el cabezal NX AFM (escáner Z) accionado por el controlador electrónico NX AFM.