La elipsometría es una técnica que se usa a menudo para medir el grosor de una película delgada. En términos generales, la medición se realiza polarizando un haz de luz incidente, reflejándolo en una superficie de muestra lisa en un ángulo oblicuo grande y luego volviendo a polarizar el haz de luz antes de su medición de intensidad. Dado que el proceso de reflejar la luz de una superficie de muestra lisa generalmente cambia la luz polarizada linealmente en luz polarizada elípticamente, la técnica se ha denominado elipsometría.
Los diferentes técnicas de Elipsometría y los diferentes sistemas que ofrecemos son:
Los elipsómetros de imagen de Accurion combinan las ventajas de la elipsometría y la microscopía óptica en un único dispositivo. La unificación de las dos tecnologías crea una herramienta de metrología única que redefine los límites tanto de las mediciones elipsométricas como de la microscopía de contraste de polarización. La resolución espacial mejorada de los elipsómetros de imagen (aproximadamente 1 µm) amplía la elipsometría a nuevas áreas del microanálisis, la microelectrónica y la bioanalítica.
El elipsómetro espectroscópico referenciado (RSE) es un reflectómetro basado en el elipsómetro, diseñado para la cartografía de espesores a alta velocidad en, por ejemplo, el control de calidad. Permite medir con precisión espesores de 0,1 nm a 10 µm. Con 200 espectros completos registrados por segundo, se puede investigar un área de 100 mm x 100 mm en sólo 12 minutos, adquiriendo 67000 espectros
Microscopía de Ángulo de Brewster
El UltraBAM es el microscopio de ángulo Brewster definitivo diseñado para la interfaz aire/líquido. Permite la visualización directa de monocapas de Langmuir o películas de adsorbato. También puede trabajar sobre sustratos sólidos como vidrio, cuarzo o materiales similares.*
El UltraBAM combina imágenes de alta resolución y totalmente enfocadas en tiempo real. La óptica de imagen avanzada proporciona imágenes totalmente enfocadas a 20-35 fotogramas por segundo. Una cámara de alto rendimiento y algoritmos de calibración específicos permiten realizar mediciones cuantitativas de la reflectividad. De este modo, se puede supervisar la cinética de adsorción o las variaciones de espesor. El instrumento viene con un analizador motorizado para visualizar la anisotropía óptica causada por el orden de orientación molecular de largo alcance en las monocapas.
Para ampliar información: info@irida.es
