Avance en el desarrollo de células solares comerciales basadas en perovskita

Los materiales de perovskita son candidatos interesantes para la próxima generación de #fotovoltaicos debido a sus altas eficiencias de conversión y su relativa facilidad de fabricación. Sin embargo, la producción a gran escala de células solares de perovskita requiere una mejor comprensión de la histéresis de la corriente y su impacto en la eficiencia y

3D Lithography

¿Sabía que? Con nuestros equipos podemos estructurar fotorresistencias tanto negativas como positivas. Con las fotorresistencias negativas las áreas expuestas se reticulan y permanecen en el sustrato después del paso de revelado. (izquierda) Cuando se utilizan fotorresistencias positivas, las zonas expuestas se eliminan con el paso de revelado. (derecha). ¿Quiere saber más? Lea nuestras preguntas frecuentes

Nueva Generación de microsondas XPS de escaneo – VersaProbe 4 – de Physical Electronics

Physical Electronics, líder mundial en instrumentación de análisis de superficies UHV, ha anunciado la nueva generación de VersaProbe 4 de PHI, un exitoso espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (XPS) multitécnico diseñado para mejorar el rendimiento espectroscópico y aumentar la productividad y la innovación de los laboratorios académicos e industriales. El nuevo PHI VersaProbe 4

La 7ª Generación de TOF-SIMS  de PHI

Imagen  MS/MS TOF- SIMS tándem MS IMAGING   * La 7ª Generación de TOF-SIMS  de PHI Nueva apariencia más elegante, diseño ergonómico, más reducido en tamaño  y un menor consumo Nuevo  diseño de platina totalmente automatizado con estacionamiento en vacío para un manejo de muestras más seguro y de alto rendimiento Nuevo emisor de iones

TOF-SIMS PHI nanoTOF 3

PHI nanoTOF 3 Time-of-Flight SIMS   El espectrómetro de masas MS/MS de imagen paralela patentado por PHI proporciona una sensibilidad superior, un bajo fondo espectral, una capacidad única para obtener imágenes de superficies altamente topográficas, una alta precisión y resolución de masas, y una identificación inequívoca de los picos con la capacidad de imagen MS

PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe

Introducing NEW VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe Rendimiento espectroscópico mejorado Alta sensibilidad en el análisis de áreas pequeñas y grandes mediante una fuente de rayos X de barrido microfocalizada NUEVAS imágenes y mapeo de grandes áreas Imágenes de electrones secundarios inducidos por rayos X (SXI) para la navegación de grandes áreas Mapeo químico de grandes áreas