RAMOS RA1064 – Espectrómetro Raman a 1064nm

RAMOS RA1064 es un instrumento único que permite obtener espectros Raman en aquellas aplicaciones donde la señal de dispersión Raman es ampliamente excedida por la fluorescencia. Con RAMOS RA1064 puede analizar fácilmente gases, aceites, colorantes, pinturas, sustancias orgánicas, etc.   Especificaciones     RAMOS RA1064 RAMOS RA1064H Láser Longitud de onda  1064 nm Potencia de

RAMOS RA532 – Espectrómetro Raman

RAMOS RA532 es un instrumento único que combina la ventaja de un sistema de sonda portátil con el rendimiento de un instrumento de laboratorio altamente específico. Es la elección perfecta para los análisis Raman donde los datos de alta calidad son esenciales.         Especificaciones     RA532 RA532H RA532S Láser Longitud de

RAMOS CARS – Microscopio de barrido CARS

Ventajas del método CARS Alta sensibilidad: CARS genera señales más intensas y especificas en comparación con la microscopía Raman espontánea La señal anti-Stokes CARS tiene una frecuencia que excede las frecuencias de las ondas de bombeo y se detecta en un rango espectral libre de la luz dispersa de la luminiscencia de Stokes La señal

RAMOS E/M Series – Microscopios Raman de barrido (mapping)

Los espectrómetros Raman de la serie RAMOS E / M de están diseñados para su utilización con microscopios ópticos de grado de investigación que permiten la realización de los siguientes métodos de microscopía óptica: Mediciones Raman Luz transmitida Luz reflejada (campo brillante e iluminación de campo oscuro) Microscopia confocal Mediciones de fluorescencia Imagen de contraste

RAMOS S120 – Microscopio Confocal Raman Básico

Microscopio confocal Raman versátil y automatizado Diseño confocal verdadero de alto rendimiento que permite una resolución submicrométrica Microscopio óptico de nivel de investigación con técnicas avanzadas. El potente software permite el mapeo de líneas, áreas, perfiles de profundidad y cortes transversales. Tamaño compacto Configuraciones de hasta 2 láseres Filtros Edge o Bragg Cambio totalmente automatizado

Caracterización de grafeno usando XPS – PHI VersaProbe III

El PHI VersaProbe III presenta múltiples herramientas analíticas para caracterizar materiales bidimensionales como el grafeno. Consulte esta nota de aplicación con XPS & REELS para caracterizar #Graphene con el PHI VersaProbe III. #surfaceanalysis hashtag#materialcharacterization hashtag#physicalelectronics characterization-of-graphene-using-xps-and-reels  

PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS

El espectrómetro de masas TRIFT patentado de PHI con Parallel Imaging MS / MS proporciona una sensibilidad superior, un fondo espectral bajo, una capacidad única para obtener imágenes de superficies altamente topográficas, alta precisión de masa y resolución de masa, e identificación inequívoca de picos de alta masa con capacidad de imagen de MS en