Imagen MS/MS
TOF- SIMS tándem MS IMAGING
* La 7ª Generación de TOF-SIMS de PHI
- Nueva apariencia más elegante, diseño ergonómico, más reducido en tamaño y un menor consumo
- Nuevo diseño de platina totalmente automatizado con estacionamiento en vacío para un manejo de muestras más seguro y de alto rendimiento
- Nuevo emisor de iones en racimo LMIG de bismuto con resolución espacial mejorada
* Automatización y funcionamiento a distancia
- Sistema altamente configurable para un análisis automatizado con una máxima eficiencia
- Funcionamiento y diagnóstico en remoto
*Sistema patentado Turn-Key Dual-Beam de Neutralización de carga
- Nueva combinación de electrones pulsados de baja energía e iones de Ar de baja energía para un análisis robusto y clave en ambas polaridades de iones +ve y -ve
*Imagen de MS/MS espectrómetro Paralela, Patentada
* Con la 7ª generación de TOF-SIMS se analizarán fácilmente las muestras tanto lisas como las rugosas.
- La imagen paralela ms/ms lleva a la identificación de TOF-SIMS deL » creo» aL » sé»
- Análisis de alta sensibilidad sin pérdidas con picos de hasta <20 ppm
- Para ampliar información: info@irida.es
- La 7ª Generación de TOF-SIMS de PHI (irida.es)
