Introducing NEW VersaProbe 4
Scanning XPS Microprobe
Rendimiento espectroscópico mejorado
Alta sensibilidad en el análisis de áreas pequeñas y grandes mediante una fuente de rayos X de barrido microfocalizada
NUEVAS imágenes y mapeo de grandes áreas
Imágenes de electrones secundarios inducidos por rayos X (SXI) para la navegación de grandes áreas
Mapeo químico de grandes áreas
~ 25 x 2,5 mm de mosaico SXI para seleccionar las ubicaciones de análisis con un 100% de certeza
~ 5 x 2,5 mm mapa químico C1s (rojo) y Al 2p (azul) superpuesto
Perfil de profundidad de alto rendimiento
Múltiples opciones de pistolas de iones para una variedad de materiales orgánicos, inorgánicos y mixtos
Software avanzado para el análisis de la estructura de las películas finas
Automatización fiable y funcionamiento remoto
Sistema de colas altamente configurable para el análisis automatizado sin supervisión y la máxima eficiencia
Funcionamiento totalmente remoto y diagnóstico remoto avanzado
Configuración moderna y respetuosa con el medio ambiente
Consumo de energía eficiente, bombeo más rápido y diseño ergonómico
Para ampliar información: info@irida.es
