PHI VersaProbe IIIScanning XPS Microprobe

• Anunciamos lo último en la línea de instrumentos de microprobetas XPS de escaneo de PHI: VersaProbe III Este instrumento de múltiples técnicas se basa en nuestra tecnología de microprobetas de escaneo patentada líder en la industria y en la neutralización de carga de doble haz y lo lleva a un nivel superior.Características de la VersaProbe III:
  – Nueva espectroscopía de fotoemisión inversa de baja energía (LEIPS)
  – Nuevos carretes (espectroscopía de pérdida de energía de electrones de reflexión)
  – Nueva lente de entrada del analizador con una sensibilidad 2-3 veces mayor para todas las condiciones de análisis
  – Nuevo detector multicanal para imágenes elementales y químicas más rápidas
  – Nueva tecnología dependiente del ángulo para la recolección de ángulo sólido de +/- 5 grados para mediciones ADXPS
  – Etapa caliente / fría mejorada que proporciona temperaturas de -140 ° C a + 600 ° C
  – Nuevo plato de muestra caliente dedicado que funciona hasta 800 ° C
  – Nuevo montaje de muestra transferible de 4 contactos para experimentos potenciales controlados in situ
  – Nuevo diseño de UPS para mayor sensibilidad y mejor resolución de energía
  – Rendimiento mejorado de la barrena que proporciona una mayor resolución energética y una mejor señal al ruido
  – Fuente de rayos X para escaneo microenfocado
  – Espectroscopía de área grande
  – Espectroscopía de micro área
  – Perfil de profundidad de Sputter
  – Cámara de prueba de múltiples técnicas
  – SmartSoft-VersaProbe
  – Software de reducción de datos MultiPak
  – Video de demostración de SXI
  – LEIPS (espectroscopía de fotoemisión inversa de baja energía)
  – CARRETES (espectroscopía de pérdida de energía de electrones de reflexión)
  – Características y accesorios