PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe

El PHI Quantes es el único espectrómetro HAXPES automatizado de alto rendimiento disponible en el mercado. Es una microsonda fotoelectrónica de barrido única que combina una fuente monocromática de rayos X de alta energía (HAXPES) (Cromo Kα) con una fuente monocromática convencional de rayos X blandos (Aluminio Kα). Ambas fuentes son haces de rayos X enfocados de alto flujo que pueden ser escaneados a través de la superficie de la muestra y pueden ser utilizados para definir puntos de análisis, áreas, líneas y mapas con un 100% de confianza.

La profundidad de la información analítica utilizando la fuente de rayos X de Cr es aproximadamente 3 veces más profunda que con la fuente de rayos X de Al. Esto abre oportunidades para sondear estructuras de películas más gruesas e interfaces enterradas, así como para minimizar los efectos de la contaminación superficial y el daño químico inducido por los iones durante el perfilado en profundidad.

Lleve las capacidades del sincrotrón HAXPES a su laboratorio con el PHI Quantes

El único instrumento de XPS/HAXPES de alto rendimiento totalmente automatizado disponible en el mercado
Gran manejo de muestras
Múltiples posiciones de estacionamiento
Transferencia y manipulación de muestras automatizada
Cambio rápido y automatizado entre los modos XPS y HAXPES
Navegación intuitiva de la muestra e identificación segura del área de análisis
La exclusiva microsonda de rayos X de barrido permite una navegación similar a la del SEM con un control de apuntar y hacer clic
La imagen de electrones secundarios inducidos por rayos X (SXI) proporciona una correlación perfecta entre las áreas visualizadas y la espectroscopia
Análisis superior de microáreas
La mayor sensibilidad de área pequeña del mercado
Tamaño de la microsonda de <10 micras en x e y para la fuente de rayos X de Al y <14 micras para la fuente de rayos X de Cr
Registro de imágenes para el análisis automatizado de microáreas sin supervisión

Perfil de profundidad optimizado
Múltiples opciones de pistolas de iones (Ar monatómico, Ar dual y GCIB en racimo) para una variedad de productos orgánicos e inorgánicos
Funcionalidad completa de la platina de 5 ejes, incluyendo rotación/inclinación y calentamiento/enfriamiento durante el sputtering
Perfilado multipunto dentro de un único cráter de sputtering para el análisis de defectos on/off y muestras preciosas
Ángulo de recogida de sólidos ajustable para mejorar la resolución angular para el análisis de ángulo resuelto con software avanzado para el análisis de la estructura de la película de alto rendimiento
Conjunto de soluciones especializadas para las necesidades de análisis avanzado de superficies
Calentamiento y enfriamiento in situ
Experimentos electroquímicos (polarización, estudios de polarización)
Adaptador de caja de guantes
El único instrumento HAXPES con RSF experimentales para elementos comunes