Physical Electronics, líder mundial en instrumentación de análisis de superficies UHV, ha anunciado la nueva generación de VersaProbe 4 de PHI, un exitoso espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (XPS) multitécnico diseñado para mejorar el rendimiento espectroscópico y aumentar la productividad y la innovación de los laboratorios académicos e industriales.
NUEVO El VersaProbe 4 de PHI es un instrumento multitécnico muy versátil con la fuente de rayos X de barrido monocromática y microfocalizada patentada por PHI. El instrumento ofrece una verdadera facilidad de operación similar a la del SEM, con una espectroscopia de microárea superior y excelentes capacidades de área grande. La plataforma multitécnica totalmente integrada de la PHI VersaProbe 4 ofrece una serie de fuentes de excitación opcionales, fuentes de iones sputter y capacidades de tratamiento y transferencia de muestras.
El nuevo PHI VersaProbe 4 tiene un rendimiento espectroscópico mejorado, nuevas capacidades de imagen y mapeo de grandes áreas, y una configuración moderna y respetuosa con el medio ambiente con un consumo de energía eficiente, un bombeo más rápido y un diseño ergonómico.
La plataforma multitécnica totalmente integrada de la PHI VersaProbe 4 ofrece una serie de fuentes de excitación opcionales, fuentes de iones sputter y capacidades de tratamiento y transferencia de muestras. Estas características son esenciales para el estudio de los materiales avanzados de hoy en día y para apoyar la caracterización de materiales y las necesidades de resolución de problemas.
PHI VersaProbe 4 ofrece varias características que los investigadores necesitan para un análisis de superficies de calidad, entre ellas
- Alta sensibilidad en el análisis de áreas pequeñas y grandes mediante una fuente de rayos X de barrido microfocalizada
- Navegación intuitiva de la muestra e identificación segura del área de análisis
- NUEVA imagen de electrones secundarios inducida por rayos X (SXI) para la navegación en áreas grandes y el mapeo químico de áreas grandes
- Perfil de profundidad de alto rendimiento con múltiples opciones de cañones de iones para una variedad de materiales orgánicos, inorgánicos y mixtos
- Conjunto de soluciones especializadas para la caracterización in situ de materiales avanzados
- Caracterización única de la estructura de banda electrónica completa de materiales orgánicos e inorgánicos
- Software avanzado para el análisis de la estructura de las películas finas
- Sistema de colas altamente configurable para el análisis automatizado desatendido y la máxima eficiencia
- Funcionamiento totalmente remoto y diagnóstico remoto avanzado
- Consumo de energía eficiente, bombeo más rápido y diseño ergonómico
Para ampliar información sobre PHI VersaProbe 4 https://www.phi.com/surface-analysis-equipment/versaprobe.html
