Time-of-Flight SIMS
El espectrómetro de masas MS/MS de imagen paralela patentado por PHI proporciona una sensibilidad superior, un bajo fondo espectral, una capacidad única para obtener imágenes de superficies altamente topográficas, una alta precisión y resolución de masas, y una identificación inequívoca de los picos con la capacidad de imagen MS en tándem paralela. El PHI nanoTOF 3 puede configurarse con una amplia variedad de opciones para optimizar el rendimiento de los materiales orgánicos, inorgánicos o ambos, en función de las necesidades del cliente.
NUEVA Neutralización de carga de doble haz pulsado para un análisis de aislantes
Neutralización de carga autorregulada mediante electrones de baja energía e iones de gas inerte de baja energía
Imágenes químicas sin artefactos mediante la neutralización de las cargas superficiales dependientes de la posición
NUEVO Emisor Bi Cluster con un diámetro de haz más pequeño para mejorar la obtención de imágenes HR2 de alto rendimiento
El modo de análisis más utilitario con caracterización química de < 500 nm
La obtención de imágenes HR2 se consigue con una alta corriente del haz de análisis, por lo que el tiempo de análisis es corto
La extracción retardada (DE) no es necesaria, por lo que se evitan completamente los artefactos de la DE
Análisis químico y molecular fiable de muestras curvas, rugosas y cargadas
Aceptación angular y profundidad de campo superiores del espectrómetro de masasImágenes químicas sin artefactos de muestras seccionadas por FIB ex situ e in situ
Imagen superior de materiales mediante la corrección del potencial de superficie dependiente de la posición
No es necesaria la extracción retardada (DE), por lo que se evitan completamente los artefactos de la DE
NUEVA Etapa Automatizada y Estacionamiento en Vacío para la Manipulación de Muestras de Alto Rendimiento y Análisis Desatendidos
Equipado con un mecanismo automático de transferencia de muestras que ha sido probado en más de 300 instrumentos XPS de la serie Q
Tamaños de muestra de hasta 100 mm x 100 mm, y la cámara de análisis tiene un mecanismo de estacionamiento incorporado de serie
En combinación con el editor de colas, el sistema permite realizar mediciones automáticas continuas de un gran número de muestras
Espectrómetros de masas en tándem para la obtención rápida de imágenes y la identificación precisa de picos
Nunca se descarta ningún dato; imagen integrada y sin complicaciones de TOF-SIMS (MS1) y MS en tándem (MS2)
Transmisión ultra alta para optimizar la sensibilidad molecular y el análisis de monocapas
Imágenes TOF-SIMS (MS1) y MS en tándem (MS2) de alta velocidad (> 8 kHz)
Imágenes TOF-SIMS (MS1) y MS en tándem (MS2) de alta resolución (< 100 nm)
Disociación inducida por colisión de alta energía (> 1,5 keV) (keV-CID) para la identificación
Soluciones para la caracterización in situ de materiales avanzados
Todos los modos de funcionamiento disponibles para el análisis automatizado
Análisis a crio y alta temperatura a través de las opciones del módulo caliente/frío y de alta temperatura; el movimiento completo de la muestra en 5 ejes se mantiene durante el análisis a temperatura controlada
Imágenes 3D avanzadas con el uso de haces de iones opcionales de Ar, O2, Cs, C60, Ar cluster y Ga-FIB
Experimentos electroquímicos en estado sólido (polarización) con la opción de tensión estática y ciclo de potencia
Opciones de recipiente de transferencia de muestras inertes y adaptador de recipiente de transferencia (disco AES/XPS de 25 mm)
Para ampliar información: info@irida.es