Simultaneous / Multifunctional Analysis

  • Mediciones Raman
  • Mediciones de luminiscencia
  • Reflectancia láser y mediciones de transmisión
  • Mediciones espectrales y de polarización

 

Características principales

  • Resolución espacial: < 500 nm (Z), < 200 nm (X, Y)
  • Resolución espectral: ~ 0.25 cm-1
  • Exactitud de longitud de onda: 0.005 nm (1800 l / mm)
  • Alta sensibilidad: La banda de silicio de cuarto orden a 1940 cm-1 se puede observar en menos de un minuto usando un láser de baja intensidad.
  • Se pueden usar hasta 5 láseres
  • Control motorizado para la potencia del láser, diámetro del haz, orientación de polarización, tamaño de rendija y filtros
  • Medidas de desplazamiento Raman de baja frecuencia (hasta 5 cm-1) con filtros Bragg Super-Notch
  • Rango espectral de 80 – 8000 cm-1
  • Se pueden utilizar hasta 3 detectores diferentes (CCD, EMCCD, etc.) simultáneamente
  • Adquisición de dos imágenes con un solo escaneo: una imagen Rayleigh (usando luz láser reflejada de la muestra) y una imagen espectral por dispersión Raman
  • Imagen ultrarrápida que permite obtener imágenes confocales de 1000×1000 en 3 segundos (3 μs / píxel)
  • Imagen panorámica mediante stitching automático de una serie de imágenes
  • El microscopio puede equiparse con una platina de calentamiento o enfriamiento, vacío o celda de alta presión

Sonda de fibra óptica para mediciones remotas.

Para más información: info@irida.es