XPS/HAXPES Scanning Microprobe

El Quantes es un instrumento de laboratorio utilizado para realizar ambas mediciones tradicionales de XPS utilizando una fuente de rayos X Al Kα, más experimentos de profundidad de análisis ampliados utilizando una fuente de rayos X Cr Kα (dura). Este último se conoce como HAXPES – Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X duros.

La fuente de rayos X Cr proporciona profundidades de análisis aproximadamente 3 veces mayores que las obtenidas usando una fuente de rayos X Al.

Quantes se basa en la probada y verdadera plataforma Quantera XPS.

Características de los Quantes:
Sistema de laboratorio de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X blandos / duros
Experimentos tradicionales XPS Plus HAXPES
Tecnología patentada de microprobetas de escaneo de doble fuente
Espectroscopía de área grande de alto rendimiento
Micro Área Espectroscopía e Imagen
Perfiles de profundidad dependientes del ángulo
Perfil de profundidad de Sputter multipunto de alto rendimiento
Neutralización de carga de doble haz sin intervención
Análisis automatizado de muestras múltiples y experimentos múltiples
Manejo robótico de muestras
Instrumento de alto rendimiento totalmente automatizado
Características opcionales
Muestra de calentamiento / enfriamiento e introducción
Cámaras de preparación de muestras personalizadas
20 kV Ar + Gas Cluster Ion Beam (GCIB)

Patented XPS/HAXPES Scanning Microprobe Technology

Tecnología patentada de microprobetas de escaneo XPS / HAXPES
Al Kα y Cr Kα monocromáticos duales con funcionalidad de micro sonda de escaneo.
Analizador de optimización de alta sensibilidad con ganancia de transmisión 3X.
Radiografía inducida por imágenes secundarias de electrones (SXI).
Espectroscopía multipunto y perfil de profundidad con un tamaño de haz de rayos X definido por el usuario.
Mapeo XPS con espectros en cada píxel.