Webinar Zeta

El próximo jueves 21 de Noviembre tendrá lugar un webinar gratuito sponsorizado por Zeta Instruments y con título «Next Generation Metrology and Inspection«.

El escalado continuado así como los dispositivos de estructuras más complejas (incluyendo FinFETs y apilados 3D) están creando nuevos retos en la metrología e inspección. Cada vez existen defectos más pequeños que deben ser detectados y analizados en su conjunto en diversos materiales. Los fabricantes de chips están buscando mejores técnicas de inspección para los bordes de obleas, así como herramientas metrológicas con mayor resolución, con capacidades de análisis de grandes áreas, etc…

Expertos en la materia describen nuevos enfoques para la próxima generación de herramientas de metrología e inspección.

Más Información: https://event.webcasts.com/starthere.jsp?ei=1025476