Descripción:

El método de la microscopia de fotoelectrones de rayos-x blandos (XPS) es ampliamente conocido y utilizado para la caracterización de capas finas de los materiales. Sin embargo muchas veces se necesita obtener información de una profundidad mayor y para eso se utilizan fotoelectrones derivados de rayos-x duros (HDXPS). Por razones técnicas, hasta ahora ese tipo de experimentos solo se podrían llevar a cabo con la ayuda de una instalación de sincrotron. En éste webinar presentaremos el primer equipo comercial que combina XPS y HDXPS y enfocaremos especialmente en su utilización para la caracterización de capas finas.

Presentación: 30 min.

Preguntas y respuestas: 15 min.

Fecha y Hora: 26 de Febrero 2021 11:00 p.m.

Idioma: Castellano

WEBINAR Análisis de capas finas con rayos-x duros y blandos, en tu laboratorio

 

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