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Julien Lopez (PhD) de Asylum Reseach (Oxford Instruments) presentará las últimas novedades sobre la Microscopia de Fuerza Atómica (AFM). Nuevos modos de medida como el Video-Rate AFM o nuevas aplicaciones como el análisis de materiales 2D o la caracterización de películas delgadas, son algunos de los temas, además de los últimas publicaciones en PFM (Piezoforce Microscopy), propiedades eléctricas y propiedades nanomecánicas en una gran variedad de diferentes tipos de materiales
Estaremos en diferentes puntos de España:
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