Los espectrómetros Raman de la serie RAMOS E / M de están diseñados para su utilización con microscopios ópticos de grado de investigación que permiten la realización de los siguientes métodos de microscopía óptica:

  • Mediciones Raman
  • Luz transmitida
  • Luz reflejada (campo brillante e iluminación de campo oscuro)
  • Microscopia confocal
  • Mediciones de fluorescencia
  • Imagen de contraste de polarización y contraste de fase
  • Contraste de interferencia diferencial

Proporcionan análisis rápido y de alta sensibilidad con facilidad de uso y flexibilidad

RAMOS E200

Todos los componentes del sistema RAMOS E200 están completamente integrados dentro de un microscopio óptico para resultar a un sistema muy compacto pero de alta resolución espectral. Las medidas Raman con los sistemas RAMOS E200 se pueden iniciar en pocos minutos solamente enciendo un sistema único.

En los sistemas RAMOS M350, M520, M750, los espectrógrafos son externos y se conectan a través de fibras ópticas

 

 

 

RAMOS M350

El microscopio Raman confocal compacto RAMOS M350 está diseñado para diversas medidas espectrales con resolución de imagen a escala submicrométrica.

El dispositivo presenta un alto rendimiento y una alta resolución espectral.

RAMOS M520

El microscopio Raman confocal RAMOS M520 con capacidades de clase superior es aplicable para medidas espectrales con resolución de imagen a escala submicrométrica.

El dispositivo posee todas las características de M350 pero asegura la resolución espectral mejorada.

RAMOS M750

El microscopio Raman confocal RAMOS M750 es perfecto para medidas con una resolución espectral extremadamente alta.

Especificaciones

Todos los sistemas incluyen:

  • Cámara de video en color de alta resolución para una observación óptima de la muestra
  • Microscopio óptico
  • Torreta automatizada de 3 posiciones para objetivos con espejos para radiación de entrada / salida
  • Módulo de microscopio láser confocal (módulo de «reflexión»)
  • Espectrómetro de imagen de dos canales
  • Escáner de espejos galvo en XY
  • Escáner piezoeléctrico Z
  • Platina de microscopio automatizada
  • Microscopio confocal Raman con velocidad de escaneo de 1000 x 1000 píxeles dentro de un tiempo de adquisición total de 3 segundos
  • Modos de operación de escáner ráster y de inicio-parada
  • Imágenes Raman 2D / 3D con un espectro completo en cada punto
  • Resolución espacial (100x, NA = 0.95)
Láser, nm Resolución XY, nm Resolución Z (axial), nm
473 390 550
532 440 620
633 520 730
785 650 910

 

  • Imágenes confocales de capas en profundad
  • La óptica de alto rendimiento garantiza una alta sensibilidad del sistema y una alta relación señal / ruido
  • Amplio rango espectral, máxima precisión en las medidas del desplazamiento Raman, alta resolución espectral
  • Cambio rápido de la configuración del sistema (cambio de láser y filtros) sin alineación adicional del sistema
  • La cámara CCD espectral proporciona un rendimiento sobresaliente debido al mayor número de píxeles (el número de píxeles es 2048) y un tamaño de píxel más pequeño (12 x 12 μm)
  • Eficiencia cuántica hasta el 95%. Bajo nivel de ruido de corriente oscura debido al enfriamiento termoeléctrico de dos etapas del sensor
  • Detectores que operan con memoria interna de hasta 128 MB

Interfaz Ethernet de alta velocidad para transferencia de datos.

Para más información: info@irida.es