Únase a nuestro próximo webinar «Consejos y métodos para la reducción de datos, interpretación e identificación de picos, en el uso del tándem MS en TOF-SIMS” presentado por el Dr. Gregory L. Fisher.
Este webinar gratuito se celebrará el 21 de abril de 2022 10:00 a. m. en Hora central (EE. UU. y Canadá)
Regístrese en: Inscripción al seminario web – Zoom
La espectrometría de masas de iones secundarios por tiempo de vuelo (TOF-SIMS) tiene numerosos atributos únicos, entre los que se incluyen la alta sensibilidad para componentes de baja abundancia, la alta selectividad de superficie, el ciclo de trabajo corto para la obtención rápida de imágenes, la alta resolución espacial, el perfilado de profundidad y la obtención de imágenes en 3D. PHI ha introducido un instrumento de MS/MS de imagen paralela sin pérdidas que combina la potencia de la imagen de MS en tándem (MS2) para la identificación de los picos de iones con los atributos antes mencionados de la imagen #TOF-SIMS (MS1).
Una discusión habitual con los usuarios y clientes de #TOF-SIMS se refiere a la reducción e interpretación de los datos. Concretamente, cómo se reconocen los datos más destacados del complejo conjunto de datos de imágenes MS que a menudo tienen un pico en cada unidad de escala de masa. Además, ¿Cómo se puede identificar de forma precisa e inequívoca la composición atómica del pico o picos en cuestión? Este seminario web proporcionará consejos y orientación útiles para reconocer los picos de interés, y demostrará el enfoque utilizado para la identificación segura de esos picos.
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Para ampliar información: info@irida.es
