Otros Accesorios para Microscopia Electrónica

Modelos Disponibles

Nanolathe – Eje de Rotación de Alta Precisión

Función: Proporciona rotación concéntrica continua de una muestra dentro del SEM/FIB, permitiendo aplicaciones avanzadas como tomografía o corte con FIB.

Aplicaciones clave:

  • Tomografía electrónica

  • Orientación precisa durante el corte por FIB

  • Manipulación tridimensional de muestras

Características técnicas:

  • Resolución de rotación: 10⁻⁷ rad/step

  • Eje vertical orientado con inserción superior de muestra

  • Integración directa con MM3A-EM

  • Mejora la alineación angular bajo el haz

  • Actualización rápida y sencilla desde MM3A-EM existente

SECAM – Cámara SEM Interna

Función: Cámara CCD montada dentro de la cámara de vacío del SEM, ofrece visión lateral directa de la punta para facilitar el acercamiento.

Aplicaciones clave:

  • Aproximación rápida y precisa de sondas

  • Mejora de la visibilidad en manipulación de muestras

  • Complemento visual para micromanipulador

Características técnicas:

  • Campo de visión: 3 mm

  • Montaje interno en el compartimento de muestra

  • Fuente de luz integrada

  • Visión lateral complementaria a la vista superior del SEM

  • Aproximación en <30 segundos

STA – Enfoque Seguro de la Punta

Función: Sensor de corriente de túnel que automatiza el enfoque seguro de la sonda sobre muestras conductoras.

Aplicaciones clave:

  • Reducción del riesgo de colisión punta-muestra

  • Aproximación segura incluso por usuarios inexpertos

  • Mejora del rendimiento y repetibilidad en nanoprobing

Características técnicas:

  • Sensor de corriente de túnel integrado

  • Compatible con MM3A-EM y LCMK-EM

  • Reducción significativa del tiempo de acercamiento

  • Integración directa con sistemas existentes

EBIC/RCI – Amplificador para Corriente Inducida por Haz y de Contacto

Función: Herramienta de análisis de fallos para medición precisa de bajas corrientes (EBIC y EBAC).

Aplicaciones clave:

  • Visualización de uniones p-n

  • Localización de defectos y aperturas en CI

  • Medición de cambios de resistividad en cadenas via

Características técnicas:

  • Dos micromanipuladores MM3A-EM (mínimo uno con LCMK-EM)

  • Amplificador conectado al puerto de vídeo del SEM

  • Totalmente compatible con SEM/FIB estándar

  • Sistema fácil de integrar en configuraciones existentes

STFMA – SpringTable y Software de Medición de Fuerza

Función: Sistema mecánico simple para medición de fuerzas in situ mediante la desviación de una tabla calibrada en el SEM.

Aplicaciones clave:

  • Análisis mecánico de microestructuras

  • Generación de curvas fuerza-distancia

  • Ensayos de empuje y tracción a escala micro/nano

Características técnicas:

  • Tabla elástica con constante de resorte definida

  • Imágenes SEM utilizadas para registrar desviación

  • Software Force Measurement Analysis incluido

  • Medición cuantitativa de fuerza sin sensores externos

MHS – Micro-Platina de Calentamiento

Función: Sistema compacto de calefacción para experimentos in situ con control preciso de temperatura.

Aplicaciones clave:

  • Calentamiento localizado de muestras

  • Estudios térmicos de nanomateriales

  • Pruebas de comportamiento de materiales a alta temperatura

Características técnicas:

  • Unidad autónoma de calentamiento con detección integrada

  • Control de temperatura electrónico preciso

  • Compatible con micromanipuladores MM3A-EM

  • Fácil integración en configuraciones existentes