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Microscopio de transmisión por electrones – TEM
Reacciones catalíticas in-situ para TEM
Observe directamente las reacciones de oxidación yreducción con precisión a nivel atómico, para comprender las complejasreacciones subyacentes de los catalizadores. Con la microscopía in situ, puedecambiar las condiciones ambientales de estas reacciones y observar directamentelos cambios químicos, estructurales y morfológicos que sustentan una reacciónde catálisis con precisión átomo por átomo. El sistema Atmosphere es laherramienta ideal para ese tipo de experimentos in-situ ya que crea una cámarade reacción dentro de su microscopio TEM, lo que permite obtener imágenes deresolución atómica de procesos dinámicos a nanoescala en condiciones realistas.
SOPORTES PARA CRIO-MICROSCOPÍA TEM
La serie 200 de Simple origin con una doble posición para grid, aumentael rendimiento de un experimento de crio-microscopia TEM, ofreciendo laposibilidad de analizar dos muestras con un solo soporte. Con capacidad deinclinación de +/- 70 grados, valores de derriba por debajo de los 3 nm/min,una resolución mejor que 2 Å durante su funcionamiento habitual y un tiempo defuncionamiento sin recarga de hasta 48h, el soporte de Simple Origin sepresenta como la solución más fiable y con mayor rendimiento del mercado paracrio-microscopia TEM.
Rejillas Au-FLAT para crio-microscopia TEM
Au-Flat es un soporte de muestras para Cryo-EM ultraestable, con unapelícula de aleación de oro (80% Au / 20% Pd)perforada en rejillas de malla de oro de 3 mm. Au-Flat reduce significativamente el movimientoinducido por el haz durante la toma de imágenes en comparación con laspelículas de carbono, mejorando la calidad y resolución de la imagen. Au-Flat presenta una película perforada de Au / Pden una rejilla de malla dorada, por lo que es químicamente inerte ybiológicamente compatible. Es significativamente másfuerte que las películas de carbono y es capaz de sobrevivir al flujo detrabajo en Cryo-EM, incluido el manejo de pinzas, descarga luminiscente, cargade rejilla automática y congelación por inmersión
Microscopía Electrónica de barrido – SEM
FAST EM
Obtenga imágenes de sus muestras de microscopía electrónica 100 veces más rápido. El FAST-EM es un microscopio electrónico multihaz automatizadoultrarrápido para la creación de imágenes grandes y muestras complejas de una maneramás rápida y fácil. Debido a su adquisición automatizada, este sistema de altorendimiento es ideal para obtener imágenes de muestras grandes o múltiples, enescala nanométrica y para análisis cuantitativo.
ESTACIÓN DE PUNTAS
Estación de puntas con calentamiento e iluminación para SEM
La estación de puntas HIP incluye hasta ocho sondas y una pletina delargo alcance con 30 mm de recorrido en X e Y. La pletina puede equiparseopcionalmente con codificadores de posición que producen una repetibilidad de50 nm. Otra opción es agregar un eje Z con un rango de 3 mm. El eje Z se puedecambiar por una etapa de calentamiento capaz de alcanzar temperaturas de hasta450 ° C. Además, la estación de puentas puede equiparse con un soportepersonalizado para LED para iluminar la muestra desde la parte superior. Unsegundo LED intercambiable está montado debajo de la pletina para iluminacióndesde abajo. Toda la plataforma se puede montar en el escenario del SEM en unospocos minutos y se puede quitar con la misma facilidad para devolver elmicroscopio a su estado anterior
PRUEBAS PARA SEM
Pruebas de tracción de hasta 10 kN, para SEM
Este módulo de tracción (compresión como opción) para el SEM (tambiénpara microscopía óptica y de fuerza atómica) encaja en la plataforma de lamuestra del SEM como una muestra de gran tamaño. Los objetos de prueba debentener de 20 a 60 mm de largo y no más de 5 mm de grosor. Las observacionesestáticas o dinámicas de cambios de superficie bajo carga mecánica controlada,crecimiento de grietas, fenómenos de delaminación, formación de planos dedeslizamiento, etc., mientras se registra el video in situ a través de lacámara SEM, son algunas de las aplicaciones típicas
Nano – fabricación
NanoFrazor Explorer
El Nanog frazor explorer es la primera herramienta de nanolitografía híbrida mix & match. Está equipado con el hardware y el software más avanzado para termolitografía para la escritura y la creación de imágenes a escala nanométrica mientras que se puede añadir una extensión de escritura láser integrada para acelerar la creación de patrones de características generales a escala micrométrica. Las nano y microcaracterísticas ahora se pueden escribir sin problemas y rápidamente en lamisma capa de resistencia, utilizando la misma plataforma de software en unsolo paso de fabricación.
sistemas PVD modulares y flexibles
La gama MiniLab de Moorfield incluye sistemas PVDmodulares y flexibles para I + D de alta calidad y producción a escala piloto. Son herramientascompactas que pueden combinar varias técnicas de creación de capas finas comoeEvaporación térmica, evaporación a bajatemperatura, evaporación por haz de electrones, pulverización de magnetrón, etc. y se pueden acoplar facilmente auna caja de guantes (glovebox). Una solución flexible y económica, con la mayorcalidad de procesado de todo tipo de muestras y para todo tipo de laboratorios.
REVISTA SOBRE LITOGRAFÍA
La nueva edición de la revista The Lithographer estádisponible. The Lithographer es la única revista sobre litografía de escrituradirecta que en su edición actual incluye entrevistas de investigadores expertosen litografía directa, a nivel académico e industrial:Prof. Clarence Chang, U.S. Department of Energy Argonne National LaboratoryProf. Ken Burch, Boston CollegeProf. Michelle Simmons, University of New South WalesProf. Robert Wolkow, University of AlbertaProf. Edoardo Albisetti, Politechnical University of MilanPueden recibir su ejemplar (y el ejemplar anteriorenfocado en litografía en escala de grises) de forma electrónica, con unasuscripción totalmente gratuita. Para más información contactanos
Caracterización de Superficies
AFM
El microscopio de fuerza atómica Jupiter XR es el primer y único AFM de muestras grandes que ofrece imágenes de alta velocidad y rango extendido en un solo escáner. Jupiter proporciona un acceso completo a las muestras de hasta 200 mm y ofrece una resolución más alta, resultados más rápidos, una experiencia de usuario más sencilla y la versatilidad para adaptarse tanto en la investigación académica como en los laboratorios de I + D industrial
WEBINAR TOF-SIMS
Introducción en la creación de perfiles de profundidad con TOF-SIMS
La espectrometría de masas de iones secundarios de tiempode vuelo (TOF-SIMS) es una técnica de análisis de superficie bien conocida paraproporcionar información elemental y molecular de la superficie de la muestra(10-20 Å). Sin embargo, durante los últimos 25 años, TOF-SIMS ha evolucionadohasta convertirse en una poderosa técnica de creación de perfil de profundidadmediante la utilización de múltiples haces de iones y la detección paralela detodos los iones secundarios para proporcionar información química en función dela profundidad en la muestra. En este seminario web sepresentarán los fundamentos de creación de perfil de profundidad con TOF-SIMS,junto con aplicaciones para demostrar cómo se puede utilizar la técnica en lacaracterización de materiales
Oferta microscopio confocal RAMAN
Microscopio de investigación con cabezal trinocular, conocular 10X (dioptrías ajustables), torreta de 6 objetivos con 4 objetivos plansemi-apocromáticos: 10x / 0.30, 20x / 0.5, 50x / 0.8, 100x / 0.90, iluminaciónpor reflexión con lámpara halógena de 12V / 100W, con diafragma de campo deiris y diafragma de apertura, polarizador fijo (reflectante) y analizadorgiratorio de 360 ° (reflectante), pletina motorizada de 50×50 mm y paso de 0.1um, con interruptor para campo claro y oscuro y camera de video de color CMOSde 2592 x 1944 pixeles y tamaño de de 2.2μm x 2.2μm.Espectrometro Raman S120 con 2 fuentes de excitación de 532nm (50 mW) y 785nm (130mW), rango espectral de 70 cm-1 a 3155 cm-1 y resoluciónespectral de 4 cm-1 (1.8 cm-1/ pixel CCD)SOLO por 80k € (+IVA)
Preparación de Muestras
ULTRAMICROTOMO
El ultramicrotomo PTPCZ incluye un paquete de video dealta definición donde el proceso de corte de la muestra se visualiza y se puedegrabar en video HD, en tiempo real. Todas las funciones de control se pueden activar tocando lapantalla del monitor de control a través de una interfaz de control fácil de usar, con iconosintuitivos, dispuestos lógicamente alrededor de la pantalla de video. Además elPTPCZ se puede actualizar para experimentos de reconstrucción en 3D de lamuestra y se puede acoplar el módulo crio para la crio-sección demuestrasbiológicas.
Tratamiento con plasma de baja presión
Los sistemas de plasma HPT de Henniker Plasma son perfectos para lalimpieza de superficies, la preparación de superficies y la modificación desuperficies de una amplia gama de materiales, incluidos metales, vidrio,polímeros, cerámica, plásticos y compuestos. Las aplicaciones clave incluyen el desarrollo de launión de compuestos, unión PDMS de microfluidicos, limpieza de muestras demicroscopios, limpieza de ópticas, limpieza de metales, aplicacionesbiomédicas, ciencia de polímeros y fabricación de dispositivos médicos
CONSUMIBLES
Nuestra empresa ofrece todo tipo de accesorios y consumibles para SEM,FIB/SEM, tabletop SEM, TEM, AFM, microscopia óptica y de fluorescencia, optomecánica y equipos de alto vacío, con la forma de selección más fácil parael usuario (todos los precios y características están el la web) y el tiempo de entrega más reducido (fabricantes europeos con tiempo de entrega 48h en la mayoría de los productos)
https://www.microtonano.com
https://www.nanoandmore.com
https://www.thorlabs.com
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Microscopio de transmisión por electrones – TEM
Reacciones catalíticas in-situ para TEM
Observe directamente las reacciones de oxidación yreducción con precisión a nivel atómico, para comprender las complejasreacciones subyacentes de los catalizadores. Con la microscopía in situ, puedecambiar las condiciones ambientales de estas reacciones y observar directamentelos cambios químicos, estructurales y morfológicos que sustentan una reacciónde catálisis con precisión átomo por átomo. El sistema Atmosphere es laherramienta ideal para ese tipo de experimentos in-situ ya que crea una cámarade reacción dentro de su microscopio TEM, lo que permite obtener imágenes deresolución atómica de procesos dinámicos a nanoescala en condiciones realistas.
SOPORTES PARA CRIO-MICROSCOPÍA TEM
La serie 200 de Simple origin con una doble posición para grid, aumentael rendimiento de un experimento de crio-microscopia TEM, ofreciendo laposibilidad de analizar dos muestras con un solo soporte. Con capacidad deinclinación de +/- 70 grados, valores de derriba por debajo de los 3 nm/min,una resolución mejor que 2 Å durante su funcionamiento habitual y un tiempo defuncionamiento sin recarga de hasta 48h, el soporte de Simple Origin sepresenta como la solución más fiable y con mayor rendimiento del mercado paracrio-microscopia TEM.
Rejillas Au-FLAT para crio-microscopia TEM
Au-Flat es un soporte de muestras para Cryo-EM ultraestable, con unapelícula de aleación de oro (80% Au / 20% Pd)perforada en rejillas de malla de oro de 3 mm. Au-Flat reduce significativamente el movimientoinducido por el haz durante la toma de imágenes en comparación con laspelículas de carbono, mejorando la calidad y resolución de la imagen. Au-Flat presenta una película perforada de Au / Pden una rejilla de malla dorada, por lo que es químicamente inerte ybiológicamente compatible. Es significativamente másfuerte que las películas de carbono y es capaz de sobrevivir al flujo detrabajo en Cryo-EM, incluido el manejo de pinzas, descarga luminiscente, cargade rejilla automática y congelación por inmersión
Microscopía Electrónica de barrido – SEM
FAST EM
Obtenga imágenes de sus muestras de microscopía electrónica 100 veces más rápido. El FAST-EM es un microscopio electrónico multihaz automatizadoultrarrápido para la creación de imágenes grandes y muestras complejas de una maneramás rápida y fácil. Debido a su adquisición automatizada, este sistema de altorendimiento es ideal para obtener imágenes de muestras grandes o múltiples, enescala nanométrica y para análisis cuantitativo.
ESTACIÓN DE PUNTAS
Estación de puntas con calentamiento e iluminación para SEM
La estación de puntas HIP incluye hasta ocho sondas y una pletina delargo alcance con 30 mm de recorrido en X e Y. La pletina puede equiparseopcionalmente con codificadores de posición que producen una repetibilidad de50 nm. Otra opción es agregar un eje Z con un rango de 3 mm. El eje Z se puedecambiar por una etapa de calentamiento capaz de alcanzar temperaturas de hasta450 ° C. Además, la estación de puentas puede equiparse con un soportepersonalizado para LED para iluminar la muestra desde la parte superior. Unsegundo LED intercambiable está montado debajo de la pletina para iluminacióndesde abajo. Toda la plataforma se puede montar en el escenario del SEM en unospocos minutos y se puede quitar con la misma facilidad para devolver elmicroscopio a su estado anterior
PRUEBAS PARA SEM
Pruebas de tracción de hasta 10 kN, para SEM
Este módulo de tracción (compresión como opción) para el SEM (tambiénpara microscopía óptica y de fuerza atómica) encaja en la plataforma de lamuestra del SEM como una muestra de gran tamaño. Los objetos de prueba debentener de 20 a 60 mm de largo y no más de 5 mm de grosor. Las observacionesestáticas o dinámicas de cambios de superficie bajo carga mecánica controlada,crecimiento de grietas, fenómenos de delaminación, formación de planos dedeslizamiento, etc., mientras se registra el video in situ a través de lacámara SEM, son algunas de las aplicaciones típicas
Nano – fabricación
NanoFrazor Explorer
El Nanog frazor explorer es la primera herramienta de nanolitografía híbrida mix & match. Está equipado con el hardware y el software más avanzado para termolitografía para la escritura y la creación de imágenes a escala nanométrica mientras que se puede añadir una extensión de escritura láser integrada para acelerar la creación de patrones de características generales a escala micrométrica. Las nano y microcaracterísticas ahora se pueden escribir sin problemas y rápidamente en lamisma capa de resistencia, utilizando la misma plataforma de software en unsolo paso de fabricación.
sistemas PVD modulares y flexibles
La gama MiniLab de Moorfield incluye sistemas PVDmodulares y flexibles para I + D de alta calidad y producción a escala piloto. Son herramientascompactas que pueden combinar varias técnicas de creación de capas finas comoeEvaporación térmica, evaporación a bajatemperatura, evaporación por haz de electrones, pulverización de magnetrón, etc. y se pueden acoplar facilmente auna caja de guantes (glovebox). Una solución flexible y económica, con la mayorcalidad de procesado de todo tipo de muestras y para todo tipo de laboratorios.
REVISTA SOBRE LITOGRAFÍA
La nueva edición de la revista The Lithographer estádisponible. The Lithographer es la única revista sobre litografía de escrituradirecta que en su edición actual incluye entrevistas de investigadores expertosen litografía directa, a nivel académico e industrial:Prof. Clarence Chang, U.S. Department of Energy Argonne National LaboratoryProf. Ken Burch, Boston CollegeProf. Michelle Simmons, University of New South WalesProf. Robert Wolkow, University of AlbertaProf. Edoardo Albisetti, Politechnical University of MilanPueden recibir su ejemplar (y el ejemplar anteriorenfocado en litografía en escala de grises) de forma electrónica, con unasuscripción totalmente gratuita. Para más información contactanos
Caracterización de Superficies
AFM
El microscopio de fuerza atómica Jupiter XR es el primer y único AFM de muestras grandes que ofrece imágenes de alta velocidad y rango extendido en un solo escáner. Jupiter proporciona un acceso completo a las muestras de hasta 200 mm y ofrece una resolución más alta, resultados más rápidos, una experiencia de usuario más sencilla y la versatilidad para adaptarse tanto en la investigación académica como en los laboratorios de I + D industrial
WEBINAR TOF-SIMS
Introducción en la creación de perfiles de profundidad con TOF-SIMS
La espectrometría de masas de iones secundarios de tiempode vuelo (TOF-SIMS) es una técnica de análisis de superficie bien conocida paraproporcionar información elemental y molecular de la superficie de la muestra(10-20 Å). Sin embargo, durante los últimos 25 años, TOF-SIMS ha evolucionadohasta convertirse en una poderosa técnica de creación de perfil de profundidadmediante la utilización de múltiples haces de iones y la detección paralela detodos los iones secundarios para proporcionar información química en función dela profundidad en la muestra. En este seminario web sepresentarán los fundamentos de creación de perfil de profundidad con TOF-SIMS,junto con aplicaciones para demostrar cómo se puede utilizar la técnica en lacaracterización de materiales
Oferta microscopio confocal RAMAN
Microscopio de investigación con cabezal trinocular, conocular 10X (dioptrías ajustables), torreta de 6 objetivos con 4 objetivos plansemi-apocromáticos: 10x / 0.30, 20x / 0.5, 50x / 0.8, 100x / 0.90, iluminaciónpor reflexión con lámpara halógena de 12V / 100W, con diafragma de campo deiris y diafragma de apertura, polarizador fijo (reflectante) y analizadorgiratorio de 360 ° (reflectante), pletina motorizada de 50×50 mm y paso de 0.1um, con interruptor para campo claro y oscuro y camera de video de color CMOSde 2592 x 1944 pixeles y tamaño de de 2.2μm x 2.2μm.Espectrometro Raman S120 con 2 fuentes de excitación de 532nm (50 mW) y 785nm (130mW), rango espectral de 70 cm-1 a 3155 cm-1 y resoluciónespectral de 4 cm-1 (1.8 cm-1/ pixel CCD)SOLO por 80k € (+IVA)
Preparación de Muestras
ULTRAMICROTOMO
El ultramicrotomo PTPCZ incluye un paquete de video dealta definición donde el proceso de corte de la muestra se visualiza y se puedegrabar en video HD, en tiempo real. Todas las funciones de control se pueden activar tocando lapantalla del monitor de control a través de una interfaz de control fácil de usar, con iconosintuitivos, dispuestos lógicamente alrededor de la pantalla de video. Además elPTPCZ se puede actualizar para experimentos de reconstrucción en 3D de lamuestra y se puede acoplar el módulo crio para la crio-sección demuestrasbiológicas.
Tratamiento con plasma de baja presión
Los sistemas de plasma HPT de Henniker Plasma son perfectos para lalimpieza de superficies, la preparación de superficies y la modificación desuperficies de una amplia gama de materiales, incluidos metales, vidrio,polímeros, cerámica, plásticos y compuestos. Las aplicaciones clave incluyen el desarrollo de launión de compuestos, unión PDMS de microfluidicos, limpieza de muestras demicroscopios, limpieza de ópticas, limpieza de metales, aplicacionesbiomédicas, ciencia de polímeros y fabricación de dispositivos médicos
CONSUMIBLES
Nuestra empresa ofrece todo tipo de accesorios y consumibles para SEM,FIB/SEM, tabletop SEM, TEM, AFM, microscopia óptica y de fluorescencia, optomecánica y equipos de alto vacío, con la forma de selección más fácil parael usuario (todos los precios y características están el la web) y el tiempo de entrega más reducido (fabricantes europeos con tiempo de entrega 48h en la mayoría de los productos)
https://www.microtonano.com
https://www.nanoandmore.com
https://www.thorlabs.com
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