Información IRIDA
Dada la actual extraordinaria situación provocada por el COVID2019 queremos enviar un mensaje para nuestros clientes, colaboradores y la comunidad científica durante estos tiempos difíciles. Irida Ibérica valora su relación con sus clientes y colaboradores y estamos comprometidos a apoyarlo a usted y a su trabajo. Es un gran placer anunciar que Irida ha establecido
Workshop Microscopía Electrónica In-situ Electron Microscopy Capabilities and Applications
Desde Irida Ibérica, queremos agradecer a la asistencia al workshop «In-situ Electron Microscopy Capabilities and Applications» celebrado el pasado 11 de febrero en Centro Nacional de Microscopía Electrónica en la Facultad de Químicas, Av. Complutense s/n, 28040 Ciudad Universitaria, Madrid, a los profesores e investigadores que acudieron al mismo. Un especial agradecimiento a Don Jose
In-situ Electron Microscopy – Workshop gratuito de Microscopía Electrónica
Les invitamos el próximo martes 11 de Febrero a un Worshop gratuito organizado por el Centro Nacional de Microscopía Electrónica y sponsorizado por Irida Ibérica y con título «In-situ Electron Microscopy Capabilities and Applications» que tendrá lugar en el Centro Nacional de Microscopía Electrónica en la Facultad de Químicas, Av. Complutense s/n, 28040 Ciudad Universitaria, Madrid
Primera lente líquida gran angular para sensores de 1.1 «
Nueva lente de 12 mm con montura C En colaboración con VS Technology, nos enorgullece anunciar el lanzamiento de la primera solución de lente líquida gran angular del mundo que cubre sensores de alta resolución de 1.1 «. La lente con montura C incluye la lente sintonizable EL-16-40 de Optotune,
Pixelink® anuncia la integración de WinROOF2018 por Mitani Corporation para el procesamiento y medición avanzada de imágenes
Pixelink, un proveedor global de cámaras industriales para los mercados de visión artificial y microscopía, se complace en anunciar la integración del software de análisis y medición de imágenes WinROOF2018, con la serie Pixelink PL-D de cámaras compatibles con U3V Vision. WinROOF2018, de la firma japonesa Mitani Corporation, ofrece a los usuarios industriales y de
Caracterización de grafeno usando XPS – PHI VersaProbe III
El PHI VersaProbe III presenta múltiples herramientas analíticas para caracterizar materiales bidimensionales como el grafeno. Consulte esta nota de aplicación con XPS & REELS para caracterizar #Graphene con el PHI VersaProbe III. #surfaceanalysis hashtag#materialcharacterization hashtag#physicalelectronics characterization-of-graphene-using-xps-and-reels
Protochips Fusion SEM in situ
En la Universidad de Missouri-Columbia, #insitu #electronmicroscopy y #archaeology se unen para ayudar a «descubrir» secretos sobre pigmentos minerales antiguos! Con la ayuda del calentamiento in situ Protochips Fusion SEM, los investigadores descubrieron que nuestros antepasados calentaban bacterias ricas en hierro para producir la pintura que se ve en el antiguo arte rupestre. Lea más
Descubre el MLA300 THE MASKLESS ALIGNER FOR VOLUME PRODUCTION
El MLA300 es la versión de producción industrial del Alineador sin máscara, que ya se ha convertido en un estándar en aplicaciones de Investigación y Desarrollo, creación rápida de prototipos y producción de volumen bajo a medio. El MLA300 logra altas resoluciones de líneas y espacios de 2 µm con el alto rendimiento y la
ESPECIAL DESCUENTO EN PUNTAS AFM Y ACCESORIOS DE ASYLUM RESEARCH-OXFORD INSTRUMENTS
Si tiene un presupuesto que vence al final del año, esta venta es el momento perfecto para adquirir puntas de AFM. Amplíe la capacidad de su AFM y pruebe una nueva técnica de medición como la nanomecánica AM-FM, el mapeo rápido de la fuerza o el AFM electroquímico, con nuestros accesorios Asylum AFM. 🙂