• Follow us
  • Estudio de Superficies
    • AFM Park Systems Small Sample
      • AFM Park FX40​ Small Samples
      • AFM Park NX10 Small Samples
      • AFM Park NX12​ Small Samples
      • AFM Park NX7 Small Samples
    • AFM Park Systems Large Sample
      • AFM Park NX20 300mm Large Sample
      • AFM Park NX20 Large Sample
      • AFM Park NX20 Lite Large Sample
    • AFM de Alto Vacío
    • Perfilometría Óptica
      • Metrología 3D – Sistema µsurf
      • Perfilometría óptica 2D/ 3D – Sistema µscan
      • Mini Perfilómetro Óptico – Sistema Miniprofiler
      • Metrología confocal de alta velocidad – Sistema µsprint
    • XPS
      • PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI VersaProbe III Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI Quantera II Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe
    • Microscopía óptica de Super-Resolution
      • Super-Resolution Nanoro-M
      • Super-Resolution SMAL Lens- Lente de Inmersión
      • Super-Resolution SMAL Lens – Lente de Aire
    • Espectroscopia Auger
      • Espectroscopía Auger – PHI 710 Scanning Auger
      • Aplicaciones Espectroscopía Auger
    • Espectrómetro Raman – PicoRaman
    • TOF-SIMS
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF 3
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS
      • Videos TOF-SIMS
      • Aplicaciones TOF-SIMS
    • Accesorios Estudio de Superficies
      • Estación de Trabajo Ion-Bench
      • Soluciones de Insonorización
      • Puntas AFM
      • Patrones de Calibración
  • Micro y Nanofabricación-Semiconductores
    • Sistemas para Nanofabricación
      • NanoFrazor® Scholar para nanofabricación
      • NanoFrazor® Explore para litografía
    • Sistemas para Microfabricación
      • Maskless Aligner de sobremesa µMLA
      • Maskless Aligner MLA 150
      • MLA 300 Maskless Aligner
    • Litografía 2.5D y 3D
      • MPO 100 sistema 3D Litografía y 3D Microimpresión
      • DWL 66+ laser lithography
      • Sistema de Litografía en escala de grises a nivel industrial DWL 2000 GS / DWL 4000 GS
    • Fabricación de Fotomáscaras – Equipos para Semiconductores
      • Escritor de Máscaras para semiconductores – Sistema ULTRA
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 200 / VPG+400
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 800 / VPG+1400
    • Preparación y procesado de muestras
      • Procesamiento de resinas – Sistemas automáticos
      • Procesamiento de foto resinas – sistemas semi automáticos
      • Spinner systems
      • Equipos de limpieza líquida
      • Equipos para adhesión temporal- Temporay Bonding
      • DEBONDING
      • OTROS SISTEMAS
    • Procesamiento de Muestras para microfabricación
      • Sistemas de Lapeado y Pulido de precisión
      • Pulido químico y pulido químico mecánico
      • Herramientas de lapeado y pulido con cabezal accionado
      • Unidades de unión e impregnación
      • Sistemas de pruebas y medidas
      • Sistemas de corte
  • Salas blancas
    • Salas blancas portables
    • Salas blancas portables y a medida
    • Salas blancas para Semiconductores
  • Microscopía Electrónica in Situ
    • Cátodo luminiscencia y fluorescencia in situ
      • Equipos Delmic
    • Microtomos
    • Medidas in Situ en TEM
    • Ensayos micromecánicos in-situ en SEM
    • Tecnología de Plasma
    • Estación de puntas para SEM
    • Micromanipuladores
    • Cryoholders para TEM
    • Otros Accesorios para Microscopia Electrónica
    • Cajas de reducción de ruido para SEM/TEM
    • Consumibles para Microscopia Electrónica
  • Componentes y Accesorios
    • Cámaras
      • Cámaras Navitar
      • Cámaras Pixelink – A Navitar Company
    • LEDS
      • LED – CoolLED
    • Óptica y Optomecánica
      • Óptica Navitar
      • Optomecánica Thorlabs
      • Inicio
  • Estudio de Superficies
    • - AFM Park Systems Small Sample
      • - - AFM Park FX40​ Small Samples
      • - - AFM Park NX10 Small Samples
      • - - AFM Park NX12​ Small Samples
      • - - AFM Park NX7 Small Samples
    • - AFM Park Systems Large Sample
      • - - AFM Park NX20 300mm Large Sample
      • - - AFM Park NX20 Large Sample
      • - - AFM Park NX20 Lite Large Sample
    • - AFM de Alto Vacío
    • - Perfilometría Óptica
      • - - Metrología 3D – Sistema µsurf
      • - - Perfilometría óptica 2D/ 3D – Sistema µscan
      • - - Mini Perfilómetro Óptico – Sistema Miniprofiler
      • - - Metrología confocal de alta velocidad – Sistema µsprint
    • - XPS
      • - - PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe
      • - - XPS PHI VersaProbe III Scanning XPS Microprobe
      • - - XPS PHI Quantera II Scanning XPS Microprobe
      • - - XPS PHI PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe
    • - Microscopía óptica de Super-Resolution
      • - - Super-Resolution Nanoro-M
      • - - Super-Resolution SMAL Lens- Lente de Inmersión
      • - - Super-Resolution SMAL Lens – Lente de Aire
    • - Espectroscopia Auger
      • - - Espectroscopía Auger – PHI 710 Scanning Auger
      • - - Aplicaciones Espectroscopía Auger
    • - Espectrómetro Raman – PicoRaman
    • - TOF-SIMS
      • - - TOF-SIMS PHI nanoTOF 3
      • - - TOF-SIMS PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS
      • - - Videos TOF-SIMS
      • - - Aplicaciones TOF-SIMS
    • - Accesorios Estudio de Superficies
      • - - Estación de Trabajo Ion-Bench
      • - - Soluciones de Insonorización
      • - - Puntas AFM
      • - - Patrones de Calibración
  • Micro y Nanofabricación-Semiconductores
    • - Sistemas para Nanofabricación
      • - - NanoFrazor® Scholar para nanofabricación
      • - - NanoFrazor® Explore para litografía
    • - Sistemas para Microfabricación
      • - - Maskless Aligner de sobremesa µMLA
      • - - Maskless Aligner MLA 150
      • - - MLA 300 Maskless Aligner
    • - Litografía 2.5D y 3D
      • - - MPO 100 sistema 3D Litografía y 3D Microimpresión
      • - - DWL 66+ laser lithography
      • - - Sistema de Litografía en escala de grises a nivel industrial DWL 2000 GS / DWL 4000 GS
    • - Fabricación de Fotomáscaras – Equipos para Semiconductores
      • - - Escritor de Máscaras para semiconductores – Sistema ULTRA
      • - - Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 200 / VPG+400
      • - - Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 800 / VPG+1400
    • - Preparación y procesado de muestras
      • - - Procesamiento de resinas – Sistemas automáticos
      • - - Procesamiento de foto resinas – sistemas semi automáticos
      • - - Spinner systems
      • - - Equipos de limpieza líquida
      • - - Equipos para adhesión temporal- Temporay Bonding
      • - - DEBONDING
      • - - OTROS SISTEMAS
    • - Procesamiento de Muestras para microfabricación
      • - - Sistemas de Lapeado y Pulido de precisión
      • - - Pulido químico y pulido químico mecánico
      • - - Herramientas de lapeado y pulido con cabezal accionado
      • - - Unidades de unión e impregnación
      • - - Sistemas de pruebas y medidas
      • - - Sistemas de corte
  • Salas blancas
    • - Salas blancas portables
    • - Salas blancas portables y a medida
    • - Salas blancas para Semiconductores
  • Microscopía Electrónica in Situ
    • - Cátodo luminiscencia y fluorescencia in situ
      • - - Equipos Delmic
    • - Microtomos
    • - Medidas in Situ en TEM
    • - Ensayos micromecánicos in-situ en SEM
    • - Tecnología de Plasma
    • - Estación de puntas para SEM
    • - Micromanipuladores
    • - Cryoholders para TEM
    • - Otros Accesorios para Microscopia Electrónica
    • - Cajas de reducción de ruido para SEM/TEM
    • - Consumibles para Microscopia Electrónica
  • Componentes y Accesorios
    • - Cámaras
      • - - Cámaras Navitar
      • - - Cámaras Pixelink – A Navitar Company
    • - LEDS
      • - - LED – CoolLED
    • - Óptica y Optomecánica
      • - - Óptica Navitar
      • - - Optomecánica Thorlabs
      • - - Inicio
  • Estudio de Superficies
    • AFM Park Systems Small Sample
      • AFM Park FX40​ Small Samples
      • AFM Park NX10 Small Samples
      • AFM Park NX12​ Small Samples
      • AFM Park NX7 Small Samples
    • AFM Park Systems Large Sample
      • AFM Park NX20 300mm Large Sample
      • AFM Park NX20 Large Sample
      • AFM Park NX20 Lite Large Sample
    • AFM de Alto Vacío
    • Perfilometría Óptica
      • Metrología 3D – Sistema µsurf
      • Perfilometría óptica 2D/ 3D – Sistema µscan
      • Mini Perfilómetro Óptico – Sistema Miniprofiler
      • Metrología confocal de alta velocidad – Sistema µsprint
    • XPS
      • PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI VersaProbe III Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI Quantera II Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe
    • Microscopía óptica de Super-Resolution
      • Super-Resolution Nanoro-M
      • Super-Resolution SMAL Lens- Lente de Inmersión
      • Super-Resolution SMAL Lens – Lente de Aire
    • Espectroscopia Auger
      • Espectroscopía Auger – PHI 710 Scanning Auger
      • Aplicaciones Espectroscopía Auger
    • Espectrómetro Raman – PicoRaman
    • TOF-SIMS
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF 3
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS
      • Videos TOF-SIMS
      • Aplicaciones TOF-SIMS
    • Accesorios Estudio de Superficies
      • Estación de Trabajo Ion-Bench
      • Soluciones de Insonorización
      • Puntas AFM
      • Patrones de Calibración
  • Micro y Nanofabricación-Semiconductores
    • Sistemas para Nanofabricación
      • NanoFrazor® Scholar para nanofabricación
      • NanoFrazor® Explore para litografía
    • Sistemas para Microfabricación
      • Maskless Aligner de sobremesa µMLA
      • Maskless Aligner MLA 150
      • MLA 300 Maskless Aligner
    • Litografía 2.5D y 3D
      • MPO 100 sistema 3D Litografía y 3D Microimpresión
      • DWL 66+ laser lithography
      • Sistema de Litografía en escala de grises a nivel industrial DWL 2000 GS / DWL 4000 GS
    • Fabricación de Fotomáscaras – Equipos para Semiconductores
      • Escritor de Máscaras para semiconductores – Sistema ULTRA
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 200 / VPG+400
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 800 / VPG+1400
    • Preparación y procesado de muestras
      • Procesamiento de resinas – Sistemas automáticos
      • Procesamiento de foto resinas – sistemas semi automáticos
      • Spinner systems
      • Equipos de limpieza líquida
      • Equipos para adhesión temporal- Temporay Bonding
      • DEBONDING
      • OTROS SISTEMAS
    • Procesamiento de Muestras para microfabricación
      • Sistemas de Lapeado y Pulido de precisión
      • Pulido químico y pulido químico mecánico
      • Herramientas de lapeado y pulido con cabezal accionado
      • Unidades de unión e impregnación
      • Sistemas de pruebas y medidas
      • Sistemas de corte
  • Salas blancas
    • Salas blancas portables
    • Salas blancas portables y a medida
    • Salas blancas para Semiconductores
  • Microscopía Electrónica in Situ
    • Cátodo luminiscencia y fluorescencia in situ
      • Equipos Delmic
    • Microtomos
    • Medidas in Situ en TEM
    • Ensayos micromecánicos in-situ en SEM
    • Tecnología de Plasma
    • Estación de puntas para SEM
    • Micromanipuladores
    • Cryoholders para TEM
    • Otros Accesorios para Microscopia Electrónica
    • Cajas de reducción de ruido para SEM/TEM
    • Consumibles para Microscopia Electrónica
  • Componentes y Accesorios
    • Cámaras
      • Cámaras Navitar
      • Cámaras Pixelink – A Navitar Company
    • LEDS
      • LED – CoolLED
    • Óptica y Optomecánica
      • Óptica Navitar
      • Optomecánica Thorlabs
      • Inicio
Home / Noticias

Noticias

Irida Ibérica, S.L 2022
  • Bienvenidos a Irida
  • Quiénes Somos
  • Contacto
  • Noticias
  • Términos y condiciones
  • Política de cookies
  • Política de privacidad
  • Aviso legal