New! SMX modules for in-situ mask and substrate exchange

New! SMX modules for in-situ mask and substrate exchange PVD processes typically require multiple masks with different patterns to produce a finished multi-layer device. SMX technology from Moorfield allows users to change masks between deposition layers, without breaking vacuum. It also allows multiple substrates to be coated sequentially during a single run, enhancing throughput massively. SMX

Cryoholders para SEM

Cryo-Module 80 Kelvin Este «módulo Cryo» se puede montar en la platina del SEM «como una muestra grande». La geometría del intercambiador de temperatura dentro del cuerpo del criostato, la llamada cámara de «torbellino», funciona con un nivel de vibración muy bajo y un consumo mínimo de nitrógeno líquido. El nitrógeno líquido (o en algunas

Información IRIDA

Dada la actual extraordinaria situación provocada por el COVID2019 queremos enviar un mensaje para nuestros clientes, colaboradores y la comunidad científica durante estos tiempos difíciles. Irida Ibérica  valora su relación con sus clientes y colaboradores y estamos comprometidos a apoyarlo a usted y a su trabajo. Es un gran placer anunciar que Irida ha establecido

Workshop Microscopía Electrónica In-situ Electron Microscopy Capabilities and Applications

Desde Irida Ibérica, queremos agradecer a la asistencia al workshop «In-situ Electron Microscopy Capabilities and Applications» celebrado el pasado 11 de febrero en Centro Nacional de Microscopía Electrónica en  la Facultad de Químicas, Av. Complutense s/n, 28040 Ciudad Universitaria, Madrid, a los profesores e investigadores que acudieron al mismo. Un especial agradecimiento a Don Jose

In-situ Electron Microscopy – Workshop gratuito de Microscopía Electrónica

Les invitamos el próximo martes 11 de Febrero a un Worshop gratuito organizado por el Centro Nacional de Microscopía Electrónica y sponsorizado por Irida Ibérica y con título «In-situ Electron Microscopy Capabilities and Applications» que tendrá lugar en el Centro Nacional de Microscopía Electrónica en la Facultad de Químicas, Av. Complutense s/n, 28040 Ciudad Universitaria, Madrid

Pixelink® anuncia la integración de WinROOF2018 por Mitani Corporation para el procesamiento y medición avanzada de imágenes

Pixelink, un proveedor global de cámaras industriales para los mercados de visión artificial y microscopía, se complace en anunciar la integración del software de análisis y medición de imágenes WinROOF2018, con la serie Pixelink PL-D de cámaras compatibles con U3V Vision. WinROOF2018, de la firma japonesa Mitani Corporation, ofrece a los usuarios industriales y de

Caracterización de grafeno usando XPS – PHI VersaProbe III

El PHI VersaProbe III presenta múltiples herramientas analíticas para caracterizar materiales bidimensionales como el grafeno. Consulte esta nota de aplicación con XPS & REELS para caracterizar #Graphene con el PHI VersaProbe III. #surfaceanalysis hashtag#materialcharacterization hashtag#physicalelectronics characterization-of-graphene-using-xps-and-reels  

Protochips Fusion SEM in situ

En la Universidad de Missouri-Columbia, #insitu #electronmicroscopy y #archaeology se unen para ayudar a «descubrir» secretos sobre pigmentos minerales antiguos! Con la ayuda del calentamiento in situ Protochips Fusion SEM, los investigadores descubrieron que nuestros antepasados calentaban  bacterias ricas en hierro para producir la pintura que se ve en el antiguo arte rupestre. Lea más