Jueves 18 de octubre
8AM PDT | 11AM EDT | 15:00 GMT

Las pruebas nanomecánicas in situ dentro de un microscopio electrónico de transmisión (TEM) brindan una perspectiva única de la dinámica del material en las escalas micrométrica, nanométrica y atómica. Los avances recientes en el diseño de soportes nanomecánicos, las técnicas de microscopía y la tecnología de detectores permiten observaciones sin precedentes del comportamiento del material a pequeña escala bajo tensión aplicada. En este seminario web, el Dr. Sanjit Bhowmick, Bruker, hablará sobre el diseño y las capacidades de Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter de Bruker, junto con una introducción a la amplia variedad de técnicas de prueba mecánica a pequeña escala que son posibles dentro de un TEM. El Dr. Christian Kübel, del Instituto de Tecnología de Karlsruhe, presentará un estudio sobre la observación de los cambios cristalográficos dinámicos y el efecto Bauschinger en películas delgadas bajo tensión cíclica in situ.

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