Microscopios de Fuerza Atómica (AFM)
Microscopía de Fuerza Atómica
Soluciones avanzadas para caracterización a nanoescala
Irida distribuye los sistemas AFM de Park Systems, líder mundial en microscopía de fuerza atómica. Estos equipos permiten explorar, medir y caracterizar superficies con una precisión nanométrica sin igual. Están diseñados para atender las necesidades tanto de investigación como de entornos industriales de alta exigencia, incluyendo semiconductores, materiales avanzados, ciencias de la vida y más.
Modelos disponibles
Ideal para muestras pequeñas en laboratorios de investigación.
Preparado para escanear muestras de gran tamaño con alta flexibilidad.
Perfecto para estudios en entornos de vacío y experimentación avanzada.
Espectroscopia IR a nanoescala integrada en AFM
¿Por qué elegir los AFM de Park Systems?
Park Systems es pionera en el desarrollo de tecnologías de AFM, reconocida por su compromiso con la innovación y la excelencia técnica.
Ventajas clave:
- Liderazgo global: Proveedor preferido por grandes empresas de semiconductores, universidades y laboratorios nacionales.
- Alta resolución y precisión: Equipos diseñados para caracterización detallada a escala nanométrica.
- Innovaciones patentadas: Incluye tecnologías como True Non-Contact™ y metrología 3D.
- Automatización total: Modelos con control y ejecución automatizados para entornos industriales.
Tecnologías destacadas
Modos de escaneo avanzados para una caracterización precisa
- True Non-Contact™ Imaging: Preserva la nitidez de la punta y la muestra.
- Microscopía de Fuerza Magnética (MFM): Análisis preciso de estructuras magnéticas.
- Metrología 3D automatizada: Modelado volumétrico completo de superficies.
Ámbitos de aplicación
- Ingeniería y fabricación de semiconductores
- Ciencia de materiales y nanofabricación
- Ciencias de la vida y biotecnología
- Control de calidad industrial