• Con una resolución mejor que 100 nm y un aumento de 230 – 240 x puede romper el límite de difracción, no su muestra.
    Nuestro objetivo SMAL AIR es un objetivo de superresolución sin inmersión y sin contacto para el NANORO M.

 

 

 

  • Resolución óptica líder en el mundo
    para la inspección de materiales avanzados
    Nuestras lentes SMAL AIR pueden resolver características más allá del límite de difracción de la luz hasta menos de 100 nm. Junto con nuestras etapas de escaneo NANORO, pueden realizar escaneos de súper resolución de grandes áreas de forma rápida y no destructiva.

Para ampliar información: info@irida.es

SMAL Lens (air) (lig-nanowise.com)