Metrología 3D – Sistema μsurf
Línea μsurf de NanoFocus
Medición de topografía y rugosidad con precisión nanométrica
La línea μsurf de NanoFocus permite realizar mediciones ópticas 3D automatizadas de rugosidad, topografía, volumen y grosor de capas, de forma rápida, no destructiva y con resultados repetibles. Su tecnología confocal de múltiples orificios garantiza mediciones de alta resolución incluso en geometrías complejas y bordes pronunciados.
Disponible en versiones portátiles, de laboratorio o industriales, el sistema μsurf custom se adapta a cualquier entorno, desde salas blancas hasta líneas de producción.
Características destacadas
Tecnología confocal patentada
Resolución nanométrica en segundos, incluso en estructuras de muy baja altura.
Sistema modular y personalizable
Configuración a medida para tareas específicas de medición y actualización flexible de hardware/software.
Multisensor: μsurf + μscan en un solo sistema
Combina sensores para análisis de áreas grandes con máxima precisión en puntos críticos.
Medición conforme a normas ISO/DIN
Cumple con estándares internacionales de metrología para forma, rugosidad y capas delgadas.
Aplicaciones en múltiples industrias
Desde componentes médicos y microóptica hasta electrónica y semiconductores.
Aplicaciones del sistema µsurf
Medición óptica 3D para múltiples industrias y superficies complejas
El sistema µsurf custom se adapta a una amplia gama de sectores industriales y de investigación, permitiendo el análisis preciso y repetible de superficies técnicas, incluso en condiciones exigentes. Gracias a su combinación de sensores y su alta resolución, puede aplicarse a geometrías complejas, materiales diversos y estructuras tridimensionales en el rango micro y nanométrico.
A continuación, se muestran algunos ejemplos clave de aplicación:
Microvías
Pequeñas cavidades profundas utilizadas en microelectrónica.
- Medición precisa de geometría
- Análisis no destructivo de profundidad y forma
- Ideal para control de calidad en PCB multicapa
Insertables indexables
Herramientas de corte con superficies altamente rugosas y bordes definidos.
- Medición rápida y precisa de bordes inclinados
- Evaluación del volumen del cráter
- Análisis de desgaste y profundidad absoluta
Microlentes
Componentes ópticos diminutos utilizados en sensores, iluminación y telecomunicaciones.
- Medición 3D no destructiva en diferentes fases del proceso
- Verificación de geometría, curvatura y alineación
- Control de calidad en óptica de precisión
