 Non-Contact / Tapping Mode AFM Probes |
 Force Modulation AFM Probes (FM) |
 Contact Mode AFM Probes |
|
Medidas de modo dinámico en general |
Sondas multi-funccionales |
Medidas de modo estático general |
 Silicon Nitride AFM Probes |
 Lateral Force Mode AFM Probes (LFM) |
 Conductive AFM Probes |
|
Muestras blandas en aire y líquido |
Medidas de fuerzas de fricción |
Caracterización eléctrica |
 Magnetic AFM Probes |
 Supersharp AFM Probes |
 Hardened / Enhanced Wear Resistance AFM Probes |
|
Microscopia de Fuerza Magnética (MFM) |
Medidas de resolución alta / atómica |
Barridos de larga duración, muestras duras |
 High Aspect Ratio (HAR) AFM Probes |
 Nanoindentation and Lithography AFM Probes |
 ScanAsyst PeakForce™ Tapping™ AFM Probes |
|
Medidas de grandes características |
Propiedades mecánicas y modificación de la muestra |
Sonda compatibles don ScanAsyst™ |
 Diamond AFM Probes |
 Tipless AFM Cantilevers and Cantilever Arrays |
 Functionalized / Modified / Chemical AFM Probes |
|
Lo mejor en dureza |
Para funccionalización y pegamento se esféras |
Microscopia de fuerzas químicas |
 Ultra High Frequency AFM Probes |
 Life Science AFM Probes |
 Colloidal AFM Probes |
|
Barrido de alta velocidad |
Aplicaciones biológicas |
Varias sondas con esferas coloidales para nanomecánica |
 Plateau AFM Tips |
 Self-Sensing & Self-Actuating AFM Probes |
 Sphere AFM Tips |
|
Geometría plana muy bien definida para nanomecánica |
La tecnología de AFM del futuro |
Geometría esférica bien definida para imágenes y nanomecánica |
 Scanning Thermal Microscopy AFM Probes |
 Premounted AFM Probes |
 Platinum Silicide AFM Probes |
|
Medidas de temperatura y conductividad térmica |
Para sistemas AFM Quesant / Ambios |
Las últimas sondas para caracterización eléctrica |
Para ampliar información: info@irida.es