• Follow us
  • Estudio de Superficies
    • AFM Park Systems Small Sample
      • AFM Park FX40​ Small Samples
      • AFM Park NX10 Small Samples
      • AFM Park NX12​ Small Samples
      • AFM Park NX7 Small Samples
    • AFM Park Systems Large Sample
      • AFM Park NX20 300mm Large Sample
      • AFM Park NX20 Large Sample
      • AFM Park NX20 Lite Large Sample
    • AFM de Alto Vacío
    • Perfilometría Óptica
      • Metrología 3D – Sistema µsurf
      • Perfilometría óptica 2D/ 3D – Sistema µscan
      • Mini Perfilómetro Óptico – Sistema Miniprofiler
      • Metrología confocal de alta velocidad – Sistema µsprint
    • XPS
      • PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI VersaProbe III Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI Quantera II Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe
    • Microscopía óptica de Super-Resolution
      • Super-Resolution Nanoro-M
      • Super-Resolution SMAL Lens- Lente de Inmersión
      • Super-Resolution SMAL Lens – Lente de Aire
    • Espectroscopia Auger
      • Espectroscopía Auger – PHI 710 Scanning Auger
      • Aplicaciones Espectroscopía Auger
    • Espectrómetro Raman – PicoRaman
    • TOF-SIMS
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF 3
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS
      • Videos TOF-SIMS
      • Aplicaciones TOF-SIMS
    • Accesorios Estudio de Superficies
      • Estación de Trabajo Ion-Bench
      • Soluciones de Insonorización
      • Puntas AFM
      • Patrones de Calibración
  • Micro y Nanofabricación-Semiconductores
    • Sistemas para Nanofabricación
      • NanoFrazor® Scholar para nanofabricación
      • NanoFrazor® Explore para litografía
    • Sistemas para Microfabricación
      • Maskless Aligner de sobremesa µMLA
      • Maskless Aligner MLA 150
      • MLA 300 Maskless Aligner
    • Litografía 2.5D y 3D
      • MPO 100 sistema 3D Litografía y 3D Microimpresión
      • DWL 66+ laser lithography
      • Sistema de Litografía en escala de grises a nivel industrial DWL 2000 GS / DWL 4000 GS
    • Fabricación de Fotomáscaras – Equipos para Semiconductores
      • Escritor de Máscaras para semiconductores – Sistema ULTRA
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 200 / VPG+400
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 800 / VPG+1400
    • Preparación y procesado de muestras
      • Procesamiento de resinas – Sistemas automáticos
      • Procesamiento de foto resinas – sistemas semi automáticos
      • Spinner systems
      • Equipos de limpieza líquida
      • Equipos para adhesión temporal- Temporay Bonding
      • DEBONDING
      • OTROS SISTEMAS
    • Procesamiento de Muestras para microfabricación
      • Sistemas de Lapeado y Pulido de precisión
      • Pulido químico y pulido químico mecánico
      • Herramientas de lapeado y pulido con cabezal accionado
      • Unidades de unión e impregnación
      • Sistemas de pruebas y medidas
      • Sistemas de corte
  • Salas blancas
    • Salas blancas portables
    • Salas blancas portables y a medida
    • Salas blancas para Semiconductores
  • Microscopía Electrónica in Situ
    • Cátodo luminiscencia y fluorescencia in situ
      • Equipos Delmic
    • Microtomos
    • Medidas in Situ en TEM
    • Ensayos micromecánicos in-situ en SEM
    • Tecnología de Plasma
    • Estación de puntas para SEM
    • Micromanipuladores
    • Cryoholders para TEM
    • Otros Accesorios para Microscopia Electrónica
    • Cajas de reducción de ruido para SEM/TEM
    • Consumibles para Microscopia Electrónica
  • Componentes y Accesorios
    • Cámaras
      • Cámaras Navitar
      • Cámaras Pixelink – A Navitar Company
    • LEDS
      • LED – CoolLED
    • Óptica y Optomecánica
      • Óptica Navitar
      • Optomecánica Thorlabs
      • Inicio
  • Estudio de Superficies
    • - AFM Park Systems Small Sample
      • - - AFM Park FX40​ Small Samples
      • - - AFM Park NX10 Small Samples
      • - - AFM Park NX12​ Small Samples
      • - - AFM Park NX7 Small Samples
    • - AFM Park Systems Large Sample
      • - - AFM Park NX20 300mm Large Sample
      • - - AFM Park NX20 Large Sample
      • - - AFM Park NX20 Lite Large Sample
    • - AFM de Alto Vacío
    • - Perfilometría Óptica
      • - - Metrología 3D – Sistema µsurf
      • - - Perfilometría óptica 2D/ 3D – Sistema µscan
      • - - Mini Perfilómetro Óptico – Sistema Miniprofiler
      • - - Metrología confocal de alta velocidad – Sistema µsprint
    • - XPS
      • - - PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe
      • - - XPS PHI VersaProbe III Scanning XPS Microprobe
      • - - XPS PHI Quantera II Scanning XPS Microprobe
      • - - XPS PHI PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe
    • - Microscopía óptica de Super-Resolution
      • - - Super-Resolution Nanoro-M
      • - - Super-Resolution SMAL Lens- Lente de Inmersión
      • - - Super-Resolution SMAL Lens – Lente de Aire
    • - Espectroscopia Auger
      • - - Espectroscopía Auger – PHI 710 Scanning Auger
      • - - Aplicaciones Espectroscopía Auger
    • - Espectrómetro Raman – PicoRaman
    • - TOF-SIMS
      • - - TOF-SIMS PHI nanoTOF 3
      • - - TOF-SIMS PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS
      • - - Videos TOF-SIMS
      • - - Aplicaciones TOF-SIMS
    • - Accesorios Estudio de Superficies
      • - - Estación de Trabajo Ion-Bench
      • - - Soluciones de Insonorización
      • - - Puntas AFM
      • - - Patrones de Calibración
  • Micro y Nanofabricación-Semiconductores
    • - Sistemas para Nanofabricación
      • - - NanoFrazor® Scholar para nanofabricación
      • - - NanoFrazor® Explore para litografía
    • - Sistemas para Microfabricación
      • - - Maskless Aligner de sobremesa µMLA
      • - - Maskless Aligner MLA 150
      • - - MLA 300 Maskless Aligner
    • - Litografía 2.5D y 3D
      • - - MPO 100 sistema 3D Litografía y 3D Microimpresión
      • - - DWL 66+ laser lithography
      • - - Sistema de Litografía en escala de grises a nivel industrial DWL 2000 GS / DWL 4000 GS
    • - Fabricación de Fotomáscaras – Equipos para Semiconductores
      • - - Escritor de Máscaras para semiconductores – Sistema ULTRA
      • - - Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 200 / VPG+400
      • - - Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 800 / VPG+1400
    • - Preparación y procesado de muestras
      • - - Procesamiento de resinas – Sistemas automáticos
      • - - Procesamiento de foto resinas – sistemas semi automáticos
      • - - Spinner systems
      • - - Equipos de limpieza líquida
      • - - Equipos para adhesión temporal- Temporay Bonding
      • - - DEBONDING
      • - - OTROS SISTEMAS
    • - Procesamiento de Muestras para microfabricación
      • - - Sistemas de Lapeado y Pulido de precisión
      • - - Pulido químico y pulido químico mecánico
      • - - Herramientas de lapeado y pulido con cabezal accionado
      • - - Unidades de unión e impregnación
      • - - Sistemas de pruebas y medidas
      • - - Sistemas de corte
  • Salas blancas
    • - Salas blancas portables
    • - Salas blancas portables y a medida
    • - Salas blancas para Semiconductores
  • Microscopía Electrónica in Situ
    • - Cátodo luminiscencia y fluorescencia in situ
      • - - Equipos Delmic
    • - Microtomos
    • - Medidas in Situ en TEM
    • - Ensayos micromecánicos in-situ en SEM
    • - Tecnología de Plasma
    • - Estación de puntas para SEM
    • - Micromanipuladores
    • - Cryoholders para TEM
    • - Otros Accesorios para Microscopia Electrónica
    • - Cajas de reducción de ruido para SEM/TEM
    • - Consumibles para Microscopia Electrónica
  • Componentes y Accesorios
    • - Cámaras
      • - - Cámaras Navitar
      • - - Cámaras Pixelink – A Navitar Company
    • - LEDS
      • - - LED – CoolLED
    • - Óptica y Optomecánica
      • - - Óptica Navitar
      • - - Optomecánica Thorlabs
      • - - Inicio
  • Estudio de Superficies
    • AFM Park Systems Small Sample
      • AFM Park FX40​ Small Samples
      • AFM Park NX10 Small Samples
      • AFM Park NX12​ Small Samples
      • AFM Park NX7 Small Samples
    • AFM Park Systems Large Sample
      • AFM Park NX20 300mm Large Sample
      • AFM Park NX20 Large Sample
      • AFM Park NX20 Lite Large Sample
    • AFM de Alto Vacío
    • Perfilometría Óptica
      • Metrología 3D – Sistema µsurf
      • Perfilometría óptica 2D/ 3D – Sistema µscan
      • Mini Perfilómetro Óptico – Sistema Miniprofiler
      • Metrología confocal de alta velocidad – Sistema µsprint
    • XPS
      • PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI VersaProbe III Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI Quantera II Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe
    • Microscopía óptica de Super-Resolution
      • Super-Resolution Nanoro-M
      • Super-Resolution SMAL Lens- Lente de Inmersión
      • Super-Resolution SMAL Lens – Lente de Aire
    • Espectroscopia Auger
      • Espectroscopía Auger – PHI 710 Scanning Auger
      • Aplicaciones Espectroscopía Auger
    • Espectrómetro Raman – PicoRaman
    • TOF-SIMS
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF 3
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS
      • Videos TOF-SIMS
      • Aplicaciones TOF-SIMS
    • Accesorios Estudio de Superficies
      • Estación de Trabajo Ion-Bench
      • Soluciones de Insonorización
      • Puntas AFM
      • Patrones de Calibración
  • Micro y Nanofabricación-Semiconductores
    • Sistemas para Nanofabricación
      • NanoFrazor® Scholar para nanofabricación
      • NanoFrazor® Explore para litografía
    • Sistemas para Microfabricación
      • Maskless Aligner de sobremesa µMLA
      • Maskless Aligner MLA 150
      • MLA 300 Maskless Aligner
    • Litografía 2.5D y 3D
      • MPO 100 sistema 3D Litografía y 3D Microimpresión
      • DWL 66+ laser lithography
      • Sistema de Litografía en escala de grises a nivel industrial DWL 2000 GS / DWL 4000 GS
    • Fabricación de Fotomáscaras – Equipos para Semiconductores
      • Escritor de Máscaras para semiconductores – Sistema ULTRA
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 200 / VPG+400
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 800 / VPG+1400
    • Preparación y procesado de muestras
      • Procesamiento de resinas – Sistemas automáticos
      • Procesamiento de foto resinas – sistemas semi automáticos
      • Spinner systems
      • Equipos de limpieza líquida
      • Equipos para adhesión temporal- Temporay Bonding
      • DEBONDING
      • OTROS SISTEMAS
    • Procesamiento de Muestras para microfabricación
      • Sistemas de Lapeado y Pulido de precisión
      • Pulido químico y pulido químico mecánico
      • Herramientas de lapeado y pulido con cabezal accionado
      • Unidades de unión e impregnación
      • Sistemas de pruebas y medidas
      • Sistemas de corte
  • Salas blancas
    • Salas blancas portables
    • Salas blancas portables y a medida
    • Salas blancas para Semiconductores
  • Microscopía Electrónica in Situ
    • Cátodo luminiscencia y fluorescencia in situ
      • Equipos Delmic
    • Microtomos
    • Medidas in Situ en TEM
    • Ensayos micromecánicos in-situ en SEM
    • Tecnología de Plasma
    • Estación de puntas para SEM
    • Micromanipuladores
    • Cryoholders para TEM
    • Otros Accesorios para Microscopia Electrónica
    • Cajas de reducción de ruido para SEM/TEM
    • Consumibles para Microscopia Electrónica
  • Componentes y Accesorios
    • Cámaras
      • Cámaras Navitar
      • Cámaras Pixelink – A Navitar Company
    • LEDS
      • LED – CoolLED
    • Óptica y Optomecánica
      • Óptica Navitar
      • Optomecánica Thorlabs
      • Inicio
Home / Estudio de Superficies / Accesorios Estudio de Superficies

Accesorios Estudio de Superficies

Aunque nuestro mayor esfuerzo está centrado en la propuesta de la mejor solución para las necesidades de caracterización de los materiales, no dejamos de lado todos los accesorios que ayudan a mejorar los resultados de sus medidas. Ofrecemos una gran variedad de accesorios que pueden hacer la diferencia entre una imagen y una imagen de alta resolución.

  • Mesas Anti-vibración
  • Puntas AFM
  • Patrones de Calibración
  • Sistemas de reducción de ruido-Soluciones de insonorización

 

 

PRODUCTOS

  • Accesorios Estudio de Superficies
  • Soluciones de Insonorización

INSONORIZACIÓN

  • Soluciones de Insonorización
  • Estación de Trabajo Ion-Bench
Irida Ibérica, S.L 2022
  • Bienvenidos a Irida
  • Quiénes Somos
  • Contacto
  • Noticias
  • Términos y condiciones
  • Política de cookies
  • Política de privacidad
  • Aviso legal