• Follow us
  • Micro y Nanofabricación-Semiconductores
    • Sistemas para Nanofabricación
      • NanoFrazor® Scholar para nanofabricación
      • NanoFrazor® Explore para litografía
    • Sistemas para Microfabricación
      • Maskless Aligner de sobremesa µMLA
      • Maskless Aligner MLA 150
      • MLA 300 Maskless Aligner
    • Litografía 2.5D y 3D
      • MPO 100 sistema 3D Litografía y 3D Microimpresión
      • DWL 66+ laser lithography
      • Sistema de Litografía en escala de grises a nivel industrial DWL 2000 GS / DWL 4000 GS
    • Fabricación de Fotomáscaras – Equipos para Semiconductores
      • Escritor de Máscaras para semiconductores – Sistema ULTRA
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 200 / VPG+400
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 800 / VPG+1400
  • Procesamiento de Muestras
    • Preparación y procesado de muestras
      • Procesamiento de resinas – Sistemas automáticos
      • Procesamiento de foto resinas – sistemas semi automáticos
      • Spinner systems
      • Equipos de limpieza líquida
      • Equipos para adhesión temporal- Temporay Bonding
      • DEBONDING
      • OTROS SISTEMAS
    • Sistemas de Lapeado y Pulido de precisión
      • Pulido químico y pulido químico mecánico
      • Herramientas de lapeado y pulido con cabezal accionado
      • Unidades de unión e impregnación
      • Sistemas de pruebas y medidas
      • Sistemas de corte
    • Sistemas de Deposición, grabado y tratamiento de Superficies
      • Sistemas de Deposición
      • Sistemas de Grabado
      • SISTEMAS DE LIMPIEZA – PLASMA CLEANER
  • Salas blancas
    • Salas blancas portables
    • Salas blancas portables y a medida
    • Salas blancas para Semiconductores
    • Consumibles Salas Blancas Mycleanroom
  • Estudio de Superficies
    • Microscopios de Fuerza Atómica AFM
      • AFM Park Systems Small Sample
        • AFM Park FX40​ Small Samples
        • AFM Park NX10 Small Samples
        • AFM Park NX12​ Small Samples
        • AFM Park NX7 Small Samples
      • AFM Park Systems Large Sample
        • AFM Park NX20 300mm Large Sample
        • AFM Park NX20 Large Sample
        • AFM Park NX20 Lite Large Sample
      • AFM de Alto Vacío
    • XPS
      • PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI VersaProbe III Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI Quantera II Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe
    • Microscopía óptica de Super-Resolution
      • Super-Resolution Nanoro-M
      • Super-Resolution SMAL Lens- Lente de Inmersión
      • Super-Resolution SMAL Lens – Lente de Aire
    • Espectroscopia Auger
      • Espectroscopía Auger – PHI 710 Scanning Auger
      • Aplicaciones Espectroscopía Auger
    • Espectrómetro Raman – PicoRaman
    • TOF-SIMS
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF 3
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS
      • Videos TOF-SIMS
      • Aplicaciones TOF-SIMS
    • Microscopía Electrónica in Situ
      • Cátodo luminiscencia y fluorescencia in situ
        • Equipos Delmic
      • Medidas in Situ en TEM
      • Tecnología de Plasma
      • Estación de puntas para SEM
      • Micromanipuladores
      • Cryoholders para TEM
      • Otros Accesorios para Microscopia Electrónica
      • Cajas de reducción de ruido para SEM/TEM
      • Consumibles para Microscopia Electrónica
      • Accesorios Estudio de Superficies
        • Estación de Trabajo Ion-Bench
        • Soluciones de Insonorización
        • Puntas AFM
        • Patrones de Calibración
  • Micro y Nanofabricación-Semiconductores
    • - Sistemas para Nanofabricación
      • - - NanoFrazor® Scholar para nanofabricación
      • - - NanoFrazor® Explore para litografía
    • - Sistemas para Microfabricación
      • - - Maskless Aligner de sobremesa µMLA
      • - - Maskless Aligner MLA 150
      • - - MLA 300 Maskless Aligner
    • - Litografía 2.5D y 3D
      • - - MPO 100 sistema 3D Litografía y 3D Microimpresión
      • - - DWL 66+ laser lithography
      • - - Sistema de Litografía en escala de grises a nivel industrial DWL 2000 GS / DWL 4000 GS
    • - Fabricación de Fotomáscaras – Equipos para Semiconductores
      • - - Escritor de Máscaras para semiconductores – Sistema ULTRA
      • - - Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 200 / VPG+400
      • - - Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 800 / VPG+1400
  • Procesamiento de Muestras
    • - Preparación y procesado de muestras
      • - - Procesamiento de resinas – Sistemas automáticos
      • - - Procesamiento de foto resinas – sistemas semi automáticos
      • - - Spinner systems
      • - - Equipos de limpieza líquida
      • - - Equipos para adhesión temporal- Temporay Bonding
      • - - DEBONDING
      • - - OTROS SISTEMAS
    • - Sistemas de Lapeado y Pulido de precisión
      • - - Pulido químico y pulido químico mecánico
      • - - Herramientas de lapeado y pulido con cabezal accionado
      • - - Unidades de unión e impregnación
      • - - Sistemas de pruebas y medidas
      • - - Sistemas de corte
    • - Sistemas de Deposición, grabado y tratamiento de Superficies
      • - - Sistemas de Deposición
      • - - Sistemas de Grabado
      • - - SISTEMAS DE LIMPIEZA – PLASMA CLEANER
  • Salas blancas
    • - Salas blancas portables
    • - Salas blancas portables y a medida
    • - Salas blancas para Semiconductores
    • - Consumibles Salas Blancas Mycleanroom
  • Estudio de Superficies
    • - Microscopios de Fuerza Atómica AFM
      • - - AFM Park Systems Small Sample
        • - - - AFM Park FX40​ Small Samples
        • - - - AFM Park NX10 Small Samples
        • - - - AFM Park NX12​ Small Samples
        • - - - AFM Park NX7 Small Samples
      • - - AFM Park Systems Large Sample
        • - - - AFM Park NX20 300mm Large Sample
        • - - - AFM Park NX20 Large Sample
        • - - - AFM Park NX20 Lite Large Sample
      • - - AFM de Alto Vacío
    • - XPS
      • - - PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe
      • - - XPS PHI VersaProbe III Scanning XPS Microprobe
      • - - XPS PHI Quantera II Scanning XPS Microprobe
      • - - XPS PHI PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe
    • - Microscopía óptica de Super-Resolution
      • - - Super-Resolution Nanoro-M
      • - - Super-Resolution SMAL Lens- Lente de Inmersión
      • - - Super-Resolution SMAL Lens – Lente de Aire
    • - Espectroscopia Auger
      • - - Espectroscopía Auger – PHI 710 Scanning Auger
      • - - Aplicaciones Espectroscopía Auger
    • - Espectrómetro Raman – PicoRaman
    • - TOF-SIMS
      • - - TOF-SIMS PHI nanoTOF 3
      • - - TOF-SIMS PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS
      • - - Videos TOF-SIMS
      • - - Aplicaciones TOF-SIMS
    • - Microscopía Electrónica in Situ
      • - - Cátodo luminiscencia y fluorescencia in situ
        • - - - Equipos Delmic
      • - - Medidas in Situ en TEM
      • - - Tecnología de Plasma
      • - - Estación de puntas para SEM
      • - - Micromanipuladores
      • - - Cryoholders para TEM
      • - - Otros Accesorios para Microscopia Electrónica
      • - - Cajas de reducción de ruido para SEM/TEM
      • - - Consumibles para Microscopia Electrónica
      • - - Accesorios Estudio de Superficies
        • - - - Estación de Trabajo Ion-Bench
        • - - - Soluciones de Insonorización
        • - - - Puntas AFM
        • - - - Patrones de Calibración
  • Micro y Nanofabricación-Semiconductores
    • Sistemas para Nanofabricación
      • NanoFrazor® Scholar para nanofabricación
      • NanoFrazor® Explore para litografía
    • Sistemas para Microfabricación
      • Maskless Aligner de sobremesa µMLA
      • Maskless Aligner MLA 150
      • MLA 300 Maskless Aligner
    • Litografía 2.5D y 3D
      • MPO 100 sistema 3D Litografía y 3D Microimpresión
      • DWL 66+ laser lithography
      • Sistema de Litografía en escala de grises a nivel industrial DWL 2000 GS / DWL 4000 GS
    • Fabricación de Fotomáscaras – Equipos para Semiconductores
      • Escritor de Máscaras para semiconductores – Sistema ULTRA
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 200 / VPG+400
      • Generador de Patrones de Volumen – VPG+ 800 / VPG+1400
  • Procesamiento de Muestras
    • Preparación y procesado de muestras
      • Procesamiento de resinas – Sistemas automáticos
      • Procesamiento de foto resinas – sistemas semi automáticos
      • Spinner systems
      • Equipos de limpieza líquida
      • Equipos para adhesión temporal- Temporay Bonding
      • DEBONDING
      • OTROS SISTEMAS
    • Sistemas de Lapeado y Pulido de precisión
      • Pulido químico y pulido químico mecánico
      • Herramientas de lapeado y pulido con cabezal accionado
      • Unidades de unión e impregnación
      • Sistemas de pruebas y medidas
      • Sistemas de corte
    • Sistemas de Deposición, grabado y tratamiento de Superficies
      • Sistemas de Deposición
      • Sistemas de Grabado
      • SISTEMAS DE LIMPIEZA – PLASMA CLEANER
  • Salas blancas
    • Salas blancas portables
    • Salas blancas portables y a medida
    • Salas blancas para Semiconductores
    • Consumibles Salas Blancas Mycleanroom
  • Estudio de Superficies
    • Microscopios de Fuerza Atómica AFM
      • AFM Park Systems Small Sample
        • AFM Park FX40​ Small Samples
        • AFM Park NX10 Small Samples
        • AFM Park NX12​ Small Samples
        • AFM Park NX7 Small Samples
      • AFM Park Systems Large Sample
        • AFM Park NX20 300mm Large Sample
        • AFM Park NX20 Large Sample
        • AFM Park NX20 Lite Large Sample
      • AFM de Alto Vacío
    • XPS
      • PHI VersaProbe 4 Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI VersaProbe III Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI Quantera II Scanning XPS Microprobe
      • XPS PHI PHI QuantesScanning XPS/HAXPES Microprobe
    • Microscopía óptica de Super-Resolution
      • Super-Resolution Nanoro-M
      • Super-Resolution SMAL Lens- Lente de Inmersión
      • Super-Resolution SMAL Lens – Lente de Aire
    • Espectroscopia Auger
      • Espectroscopía Auger – PHI 710 Scanning Auger
      • Aplicaciones Espectroscopía Auger
    • Espectrómetro Raman – PicoRaman
    • TOF-SIMS
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF 3
      • TOF-SIMS PHI nanoTOF II Time-of-Flight SIMS
      • Videos TOF-SIMS
      • Aplicaciones TOF-SIMS
    • Microscopía Electrónica in Situ
      • Cátodo luminiscencia y fluorescencia in situ
        • Equipos Delmic
      • Medidas in Situ en TEM
      • Tecnología de Plasma
      • Estación de puntas para SEM
      • Micromanipuladores
      • Cryoholders para TEM
      • Otros Accesorios para Microscopia Electrónica
      • Cajas de reducción de ruido para SEM/TEM
      • Consumibles para Microscopia Electrónica
      • Accesorios Estudio de Superficies
        • Estación de Trabajo Ion-Bench
        • Soluciones de Insonorización
        • Puntas AFM
        • Patrones de Calibración
Home / Espectroscopía

Espectroscopía

Irida Ibérica, S.L 2022
  • Bienvenidos a Irida
  • Quiénes Somos
  • Contacto
  • Noticias
  • Términos y condiciones
  • Política de cookies
  • Política de privacidad
  • Aviso legal
Barra de cookies
We use cookies on our website to give you the most relevant experience by remembering your preferences and repeat visits. By clicking “Accept”, you consent to the use of ALL the cookies.
.
SettingsAceptar


Política de Cookies

Privacy Overview

This website uses cookies to improve your experience while you navigate through the website. Out of these, the cookies that are categorized as necessary are stored on your browser as they are essential for the working of basic functionalities of the website. We also use third-party cookies that help us analyze and understand how you use this website. These cookies will be stored in your browser only with your consent. You also have the option to opt-out of these cookies. But opting out of some of these cookies may affect your browsing experience.
Necessary
Siempre activado
Necessary cookies are absolutely essential for the website to function properly. This category only includes cookies that ensures basic functionalities and security features of the website. These cookies do not store any personal information.
Non-necessary
Any cookies that may not be particularly necessary for the website to function and is used specifically to collect user personal data via analytics, ads, other embedded contents are termed as non-necessary cookies. It is mandatory to procure user consent prior to running these cookies on your website.
GUARDAR Y ACEPTAR