Difracción de Rayos X
Precisión estructural sin destrucción
Análisis cualitativo y cuantitativo de materiales cristalinos mediante técnicas de alta resolución
La difracción de rayos X (DRX) es una técnica no destructiva fundamental para estudiar la estructura cristalina, composición de fases, tensión residual y textura de materiales en polvo, sólidos o películas delgadas. GNR ofrece una amplia gama de difractómetros avanzados, desarrollados en colaboración con la industria y el ámbito académico, capaces de adaptarse a diferentes niveles de requisitos técnicos y presupuestos.
Gracias al cumplimiento de la ley de Bragg, es posible obtener información estructural precisa al incidir rayos X monocromáticos sobre planos cristalinos de la muestra. Desde el análisis de fases hasta el control de calidad, la DRX es esencial en laboratorios de materiales, metalurgia, geología, semiconductores y más.
Aplicaciones clave de la Difracción de Rayos X
Análisis cualitativo de fases
Comparación del difractograma con bases de datos oficiales para identificar fases individuales o mezclas complejas, usando software especializado.
Medición de tensión residual
Permite evaluar fuerzas internas de compresión o expansión en los planos atómicos midiendo la deformación de red.
Análisis de textura cristalina
Estudio de la orientación preferente de los cristalitos, observando cambios en la intensidad de líneas de difracción según la orientación de la muestra.
Determinación del tamaño de cristalito y microdeformación
Evaluación de anchura y forma de los picos para conocer el tamaño de partículas y deformaciones internas a escala nanométrica.
Análisis estructural completo
Desde el refinamiento de estructura hasta la simulación, se accede a la geometría cristalina interna, posiciones atómicas y dimensiones de la celda unitaria.
Análisis de películas finas y multicapas
Mediante ángulos de incidencia bajos, se puede investigar estructuras superficiales complejas, haciendo posible la reflectometría y minimizando el efecto del sustrato.
Modelos disponibles
AreX D
Analizador de austenita retenida de sobremesa
AreX D es el primer difractómetro de sobremesa diseñado para la determinación rápida, precisa y sencilla de austenita retenida conforme a la norma ASTM E 975-03
Práctica estándar para la determinación por rayos X de austenita retenida en acero con orientación cristalográfica casi aleatoria.
GNR se enorgullece de ofrecer un instrumento único y fácil de usar capaz de medir la austenita retenida de acuerdo con la norma ASTM E 975-03.
El sistema GNR AreX es un difractómetro de rayos X de rango fijo-angular equipado con las más modernas características técnicas, que garantiza exactitud, precisión, seguridad y facilidad de uso, específicamente diseñado para la determinación cuantitativa de la austenita retenida.
El sistema GNR AreX está equipado con los siguientes componentes principales:
- Unidad principal
- Fuente de rayos X
- Detector lineal sensible a la posición
- Cámara USB
- Software
Como resultado del innovador concepto del GNR AreX, el porcentaje de volumen de austenita retenida puede medirse en pocos minutos, simplemente posicionando la muestra y pulsando el botón de inicio.
Edge
Portable Residual Stress Analyzer
- Analizador portátil de tensiones residuales
- Análisis no destructivo de muestras de cualquier dimensión para interiores y exteriores
Are L-Gnr
Retained Austenite Measurement
- Instrumento automatizado completo para determinar la austenita retenida
- Instrumento único y excepcional capaz de medir de forma automatizada la Austenita Retenida conforme a la norma ASTM E 975 -03
APD 2000 Pro
Difractómetro de rayos X de laboratorio
- El difractómetro APD 2000 PRO está diseñado para ser la mejor solución para el análisis estructural y de fases de muestras en polvo
- Puede equiparse con diversos accesorios para su campo de investigación específico.
Explorer
difractómetro multipropósito
- Flexibilidad y modularidad sin límites
- Difractómetro Theta/Theta de alta resolución
- Equipado con motores de par de accionamiento directo, ofrece las máximas prestaciones en numerosas áreas analíticas
- Desde el análisis de fases hasta la determinación de propiedades microestructurales en materiales a granel o en capa fina
StressX
Difractómetro de rayos X robótico para tensiones residuales
- Análisis no destructivo de muestras de cualquier dimensión
- Conforme a EN UNI 15305 y ASTM 915
- Difractómetro de rayos X montado en robot de 6 ejes
