-Difracción de Rayos X La difracción de rayos X (DRX) es una técnica no destructiva para el análisis cualitativo y cuantitativo de los materiales cristalinos, en forma de polvo o sólidos.
GNR ha desarrollado, en cooperación con usuarios académicos e industriales, un conjunto de difractómetros técnicamente avanzados y flexibles capaces de satisfacer diferentes niveles de requisitos y diferentes presupuestos operativos.
La cartera de productos de GNR XRD cubre una enorme gama de aplicaciones para la caracterización de materiales y el control de calidad de materiales cristalinos o no cristalinos como polvos, muestras, películas delgadas o líquidos.
Básicamente, la DRX se obtiene como la «reflexión» de un haz de rayos X a partir de una familia de planos atómicos paralelos e igualmente espaciados, siguiendo la ley de Bragg: cuando un haz de rayos X monocromático con longitud de onda λ incide sobre planos de la red con un ángulo θ, se produce difracción si la trayectoria de los rayos reflejados por planos sucesivos (con distancia d) es un múltiplo de la longitud de onda.
El análisis cualitativo (análisis de fases) puede realizarse gracias a la comparación del difractograma obtenido del espécimen con un gran número de patrones incluidos en las bases de datos oficiales. Las fases individuales y/o las mezclas de fases pueden analizarse con los programas disponibles en la actualidad.
Se pueden realizar muchas investigaciones con la ayuda de la difracción de rayos X.
Tensión residual: fuerzas que dan lugar a una pequeña compresión o dilatación del espaciado d. Con la DRX es posible medir la deformación (la deformación de la red original) y la tensión se calcula gracias al conocimiento de las constantes elásticas del material.
Textura: es la orientación preferida de los cristalitos en una muestra. Si existe textura en un material, la intensidad de una línea de difracción cambia con la orientación de la muestra respecto al haz incidente.
Tamaño de los cristalitos y microdeformación: estas informaciones se obtienen mediante el análisis de la anchura y la forma de las líneas de difracción.
Análisis de la estructura: La DRX se utiliza para investigar la estructura cristalográfica de un material. La posición y las intensidades relativas de las líneas de difracción pueden correlacionarse con la posición de los átomos en la celda unitaria y sus dimensiones. La indexación, el refinamiento de la estructura y la simulación pueden obtenerse con programas informáticos específicos.
Películas finas: manteniendo el haz incidente en ángulos bajos, es posible investigar las propiedades de multicapas, minimizando la interferencia del sustrato. Del mismo modo, se puede realizar reflectometría.
AreX D
Analizador de austenita retenida de sobremesa
AreX D es el primer difractómetro de sobremesa diseñado para la determinación rápida, precisa y sencilla de austenita retenida conforme a la norma ASTM E 975-03
Práctica estándar para la determinación por rayos X de austenita retenida en acero con orientación cristalográfica casi aleatoria.
GNR se enorgullece de ofrecer un instrumento único y fácil de usar capaz de medir la austenita retenida de acuerdo con la norma ASTM E 975-03.
El sistema GNR AreX es un difractómetro de rayos X de rango fijo-angular equipado con las más modernas características técnicas, que garantiza exactitud, precisión, seguridad y facilidad de uso, específicamente diseñado para la determinación cuantitativa de la austenita retenida.
El sistema GNR AreX está equipado con los siguientes componentes principales:
Unidad principal
Fuente de rayos X
Detector lineal sensible a la posición
Cámara USB
Software
Como resultado del innovador concepto del GNR AreX, el porcentaje de volumen de austenita retenida puede medirse en pocos minutos, simplemente posicionando la muestra y pulsando el botón de inicio.
Edge – Portable Residual Stress Analyzer
Analizador portátil de tensiones residuales
Análisis no destructivo de muestras de cualquier dimensión para interiores y exteriores
Are L-Gnr
Instrumento automatizado completo para determinar la austenita retenida
Instrumento único y excepcional capaz de medir de forma automatizada la Austenita Retenida conforme a la norma ASTM E 975 -03.
APD 2000 Pro
Difractómetro de rayos X de laboratorio
El difractómetro APD 2000 PRO está diseñado para ser la mejor solución para el análisis estructural y de fases de muestras en polvo. Puede equiparse con diversos accesorios para su campo de investigación específico.
Explorador
Flexibilidad y modularidad sin límites
Explorer es un difractómetro multipropósito – Theta/Theta – de alta resolución que, gracias a sus motores de par de accionamiento directo, ofrece las máximas prestaciones en numerosas áreas analíticas, desde el análisis de fases hasta la determinación de propiedades microestructurales en materiales a granel o en capa fina.
StressX
Difractómetro de rayos X robótico para tensiones residuales
Análisis no destructivo de muestras de cualquier dimensión * Conforme a EN UNI 15305 y ASTM 915 * Difractómetro de rayos X montado en robot de 6 ejes.
