[:es]Propiedades mecánicas de nano a macro[:]
[:es] Mechanical Properties (003) [:]
[:es] Mechanical Properties (003) [:]
[:es] El Maskless Aligner MLA150 lidera el futuro de la fotolitografía: Ya no se necesita una fotomáscara para crear un patrón, sino que simplemente expone su diseño directamente en su oblea recubierta. Cualquier cambio en su patrón se puede acomodar…
[:es] Protochips, una compañía de sistemas in situ en microscopía electrónica, anunció la apertura oficial de su oficina europea, Protochips EMEA GmbH. La nueva sede permitirá a Protochips brindar un mejor servicio a los clientes en toda Europa y Medio…
[:es] «Histograms of the piezoelectric sensitivity, deff, for five different cantilevers measured with OBD and with IDS. Electrostatic forces between the sample and the body of the cantilever cause the cantilever to oscillate. The resulting changes in the cantilever slope…
[:es] Inscríbete en el 7th Multifrequency AFM Conference ! Fechas: Madrid, Abril 18th – 20th , 2018 Lugar: Hotel Eurostars Madrid Tower localizado en las Cuatro Torres of Madrid. Paseo de la Castellana 259-B , 28046 Madrid (España) Chairperson Ricardo…
[:es] «Oxford Instruments Asylum Research has developed an interferometric displacement sensor (IDS) that provides a direct measure of AFM cantilever displacement. The IDS interfaces the existing optical system of the Asylum Research Cypher AFM with an external laser Doppler…
[:es] » ES-LIBS es un encuentro que tiene por objetivo establecer un medio para la presentación de los avances en ciencia y tecnología LIBS en España. Dicho encuentro tendrá lugar los días 15 y 16 de febrero de 2018…
[:es] MFP-3D Origin +…
[:en] «Heidelberg Instruments Mikrotechnik GmbH, the leading supplier of maskless optical lithography systems, is proud to announce the delivery of a DWL 66+ direct write lithography system with the high-resolution mode to NASA’s Goddard Space Flight Center in Greenbelt, MD.…
[:es] Julien Lopez (PhD) de Asylum Reseach (Oxford Instruments) presentará las últimas novedades sobre la Microscopia de Fuerza Atómica (AFM). Nuevos modos de medida como el Video-Rate AFM o nuevas aplicaciones como el análisis de materiales 2D o la caracterización…