El espectrómetro de masas TRIFT patentado de PHI con Parallel Imaging MS / MS proporciona una sensibilidad superior, un fondo espectral bajo, una capacidad única para obtener imágenes de superficies altamente topográficas, alta precisión de masa y resolución de masa, e identificación inequívoca de picos de alta masa con capacidad de imagen de MS en tándem paralelo. El nanoTOF II se puede configurar con una amplia variedad de opciones para optimizar el rendimiento de materiales orgánicos, materiales inorgánicos o ambos, según los requisitos del cliente.

Superior TRIFT Parallel Imaging MS/MS Analyzer Performance

Parallel Imaging MS / MS integrado para fragmentación y análisis en un analizador TOF separado que proporciona una identificación de picos inequívoca y capacidad de imágenes de MS en tándem paralelo.

Sensibilidad de imagen uniforme en superficies curvas o rugosas debido al gran ángulo sólido de recolección

Profundidad de campo superior para imágenes de alta resolución de masa debido a la gran ventana de aceptación de energía

Fondo espectral bajo y sensibilidad de abundancia más alta debido a la capacidad de rechazar iones metaestables

Alta sensibilidad de masa para aplicaciones orgánicas y médicas.

Análisis de aislador llave en mano habilitado por la tecnología patentada de compensación de carga de doble haz

Espectrómetro MS / MS listo para identificación de picos inequívoca

 

Superiro Thrift Analyzer Displayal

Parallel Imaging MS/MS

Debido a las limitaciones de TOF-SIMS en cuanto a precisión y resolución de masa, los picos de alta masa a menudo no se identifican en los experimentos tradicionales de TOF-SIMS. El revolucionario MS / MS de imágenes paralelas de PHI elimina esta limitación. En el modo MS / MS, se selecciona un ion precursor de elección (ventana de aceptación nanoisotópica de 1 Dalton de ancho) de la corriente de iones secundarios y se desvía hacia una célula de disociación inducida por colisión (CID) de alta energía, mientras que el resto de los iones secundarios se recogen como usual (datos MS1). En la celda CID, los iones precursores chocan con el gas argón causando fragmentación. Los iones de fragmentos resultantes se separan en masa en un TOF lineal y se cuentan en un segundo detector de conteo de pulsos, produciendo un espectro MS / MS (MS2). Similar a los datos de MS1, se recopila un espectro completo para cada píxel de imagen en el experimento MS / MS. Por lo tanto, los datos de MS / MS y TOF-SIMS tradicionales se recopilan simultáneamente de la misma área analítica en un solo experimento. La velocidad de imagen de los datos MS1 y MS2 se basa en un haz de iones pulsados ​​que funciona a> 8 kHz.

El espectro de fragmentación MS / MS resultante se usa para identificar positivamente la composición del ion precursor mediante la identificación de los iones fragmentados y / o la comparación con bases de datos espectrales de masas. El funcionamiento de TOF-SIMS en el modo MS / MS también puede mejorar la sensibilidad para especies en las que el pico de interés tiene interferencias masivas con otros compuestos. Mediante la detección de un fragmento único de iones que se origina en la especie de interés, el límite de detección se puede mejorar considerablemente.

HR2 Imaging

 

Parallel imaging of MS1 and MS2 peaks from a sample of heat treated PET, showing that identical areas are analyzed at the two detectors and that the precursor molecule at +m/z 577 (ethylene terephthalate trimer) is localized to the crystals.   Line scans show <200 nm spatial resolution for both modes of imaging.  MS1 and MS2 data are collected in parallel at 8 kHz in less than 15 minutes.

Line Scan

Heat treated PET sample.  Composition assignments for the MS2 spec.  trum obtained from CID fragmentation of the +mass 577 precursor ion confirm that the observed crystals are composed of ethylene terephthalate trimer

Heated Treated PET Sample

Automotive polymer sample.   MS/MS image (MS2) of the +m/z 481 precursor ion showing a non-uniform distribution of the species on the sample surface.

MS2 Spectrum Loss Scale

MS/MS spectrum (MS2) obtained from CID fragmentation of the +m/z 481 precursor ion.  Identification of the fragment ions indicates that the precursor ion [M+H]+ is Tinuvin 770, a polymer additive.  

MS2 Spectrum Loss Scale

Further confirmation of the identity of the precursor ion is made with a positive match to Tinuvin 770 in a commercially available MS/MS database which is included with tandem MS/MS.  The spectrum in red is the MS2 spectrum and the blue spectrum is the acquired reference database spectrum of Tinuvin.

HR²

High spatial resolution with high mass resolution

HR² imaging is demonstrated below in the images of micro-organic droplets. In a single analysis, peaks for multiple molecular fragments were observed in the spectrum at m/z 57 with high mass resolution and identified by measurement of their exact mass. The distribution of each species was visualized with a spatial resolution of less than 400 nm. The single measurement that contains all this information was acquired in only six minutes due to the high ion beam current available in the nanoTOF’s HR² imaging mode.

M/Z Graph
 
HR2 Imaging
 
HR2 Imaging

Cluster Source Ion Guns

Multiple cluster source ion gun options

Depth profile of a multi-layer polystrene and ply block
Fig A: 20 kV Ar2500+ gas cluster ion beam

20 kV Ar2500+ gas cluster ion beam for molecular depth profiling organic films. Shown in Fig. A is a depth profile of a multi-layer polystyrene and poly (2-vinylpyridine) block copolymer film obtained by sputtering with a 5 kV Ar2500+ gas cluster ion beam.

Detection and imaging of specific lipids in a mouse brain specimen
Fig B: 20 kV C60 ion gun

20 kV C60 ion gun provides imaging and spectroscopy when the highest sensitivity for organic species is required. Shown in Fig. B is the detection and imaging of specific lipids in a mouse brain specimen.

FIB-TOF 3D Chemical Imaging

SED image of FIB cut
SED Image of FIB Cut
3D Image
Overlay of Sr+, Ce+, Zr+ 3D Images

3D FIB-TOF images of a solid oxide fuel cell with a 50 x 50 x 10 µm analysis volume show the ability to observe compositional information and physical structures such as voids.

  • TOF-SIMS imaging of FIB sectioned specimens
  • High mass resolution spectra at every pixel
  • 3D imaging software with multi-element overlay capability

Features & Accessories

Standard Features

  • TRIFT mass analyzer
  • Parallel Imaging MS/MS
  • 30 kV LMIG with Bi, Au, or Ga emitter
  • Dual beam charge neutralization
  • 5 axis sample stage
  • In-situ optical viewing
  • Secondary electron detector
  • SmartSoft instrument control software
  • TOF-DR data reduction software
  • Analysis chamber with four primary ion gun ports
  • 350 l/s turbo molecular pump
  • Integrated bakeout facilities

Optional Accessories

  • 20 kV C60 pulsed ion gun
  • 20 kV Ar2500+ gas cluster ion gun
  • 2 kV Cs ion gun
  • 5 kV gas gun (Ar/O2)
  • Oxygen flood module
  • 30 kV Ga FIB gun
  • Hot/Cold sample stage module
  • Flash cooling for sample intro chamber
  • High temperature sample stage module
  • Sample transfer vessel
  • Intro chamber glove box
  • Voltage cycling sample stage module
  • Sample preparation chamber