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septiembre 2018

Nanomecánica in situ en (TEM) Microscopio electrónico de transmisión

Por |septiembre 20th, 2018|

 
Jueves, 18 de octubre
8:00 PDT | 11:00 a.m. EDT | 15:00 GMT
La prueba nanomecánica in situ dentro de un microscopio electrónico de transmisión (TEM) proporciona una visión única de la dinámica del material a escala micrométrica, nanométrica y atómica.
Los recientes avances en el diseño del soporte nanomecánico, técnicas de microscopía y la tecnología del […]

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Serie de seminarios web de PHI: aplicaciones de TOF-SIMS Imágenes de MS en tándem para resolución de problemas industriales

Por |septiembre 18th, 2018|

 
WEBINAR  JUEVES 27 de SEPTIEMBRE a las 10:00 AM
La última edición de la serie de seminarios web de PHI será sobre Aplicaciones de TOF-SIMS Tandem MS Imaging para resolver problemas industriales presentada por el Presidente de Physical Electronic en los EE. UU., Scott Bryan.

CUÁNDO: jueves, 27 de septiembre, 10:00 a.m. (Central)

La espectrometría de masas de […]

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Publicaciones de Hysitron – Bruker

Por |septiembre 6th, 2018|

SiNWs Biophysically Regulate the Fates of Human Mesenchymal Stem Cells

Multifunctional Polymer Nanocomposites Reinforced by 3D Continuous Ceramic Nanofillers
 
Deformation Twinning of Ultrahigh Strength Aluminum Nanowire
 
Deformation of electrodeposited gradient Co/Sn multilayered coatings under micro-pillar compression
 
Deformation mechanisms in FCC Co dominated by high-density stacking faults
 
Disordered nanoparticle packings under local stress exhibit avalanche-like, environmentally-dependent plastic deformation
 
Direct observation of […]

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Ultimas Publicaciones de Hysitron – Bruker Nano Surfaces Division

Por |septiembre 6th, 2018|

Facture toughness of Si3N4 fibers: a combined methodology based on single-edge notch tension and micropillar splitting
 
Transparent Polyelectrolyte Complex Thin Films with Ultralow Oxygen Transmission Rate
 
Microstructure and properties of Nb-doped diamond-like carbon films deposited by high power impulse magnetron sputtering
 
Constructing WS2/MoS2 nano-scale multilayer film and understanding its positive response to space environment
 
Evolution of Microstructure and […]

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“AFM Characterization of Emerging Photovoltaics” Webinar impartido por Oxford Instruments Asylum Research, September 13, 2018

Por |septiembre 6th, 2018|

Oxford Instruments Asylum Research, in conjunction with the Materials Research Society (MRS), presents a free webinar, “AFM Characterization of Emerging Photovoltaics,” on September 13, 2018 at 11:30 am EDT. The webinar presents an overview of AFM applications for emerging photovoltaic (PV) systems including hybrid organic-inorganic perovskites and organic semiconductors. Speakers Dr. Rajiv Giridharagopal, Ginger […]

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Ultimas Publicaciones de Zeta Instruments – KLA Tencor

Por |septiembre 5th, 2018|

Modifying tribological performances of AISI 316 stainless steel surfaces by laser surface texturing and various solid lubricants
R Meng, J Deng, R Duan, Y Liu, G Zhang – Optics & Laser Technology, 2019
… SEM). Energy-dispersive X-ray spectrometry (EDS) was applied to examine the
chemical composition of damaged surfaces. The 3D surface profile of the wear track
was measured […]

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octubre 2017

Workshop Nanolito 2017 Madrid 23-25 de Octubre

Por |octubre 12th, 2017|

 IMDEA Nanoscience, con la colaboración de Irida Ibérica, entre otros partners presentan el Nanolito network 2017. El 7º Spanish Workshop en Nanolitografía en Madrid los días 23-25 de Octubre de 2017.
Irida acudirá con el perfilómetro óptico Z-20 de la empresa Zeta Instruments. Zeta-20™ es un perfilometro óptico completamente integrado que realiza metrología e imágenes […]

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abril 2017

Por |abril 7th, 2017|

Regístrese hoy para nuestra presentación webinar sobre espectroscopia Raman
La microscopía y la obtención de imágenes Raman están demostrando ser una valiosa técnica para la caracterización de grafenos, biomateriales y otras nanotecnologías encontradas en la investigación de ciencias de los materiales. A diferencia de la mayoría de las técnicas de caracterización, el Raman es extremadamente […]

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agosto 2011

Nueva fase estacionaria quiral inmovilizada CHIRALPAK ID de Chiral Technologies

Por |agosto 5th, 2011|

Chiral  Technologies anuncia la disponibilidad de una nueva fase estacionaria quiral inmovilizada (chiral stationary phase, CSP), CHIRALPAK ID. Esta fase estacionaria es la cuarta parte de la familia de la tecnología quiral inmovilizada. Este nuevo selector proporciona un mecanismo de reconocimiento enantiomérico novedoso, totalmente complementario a las tres anteriores fases estacionarias quirales inmovilizadas: CHIRALPAK […]

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