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abril 2018

Protochips Apertura de Nueva oficina en Europa

Por |abril 26th, 2018|

Protochips, una compañía de sistemas in situ en microscopía electrónica, anunció la apertura oficial de su oficina europea,
Protochips EMEA GmbH.

La nueva sede permitirá a Protochips brindar un mejor servicio a los clientes en toda Europa y Medio Oriente, con un servicio dedicado, soporte de aplicaciones, marketing y equipos de ventas. Esta nueva oficina atenderá […]

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Asylum Research Quantifies the “Last Axis” in Atomic Force Microscopy

Por |abril 25th, 2018|

«Histograms of the piezoelectric sensitivity, deff, for five different cantilevers measured with OBD and with IDS. Electrostatic forces between the sample and the body of the cantilever cause the cantilever to oscillate. The resulting changes in the cantilever slope are faithfully reported by the OBD, overwhelming the true electromechanical response of the sample.
Oxford Instruments […]

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Inscríbete en el 7th Multifrequency AFM Conference

Por |abril 3rd, 2018|

Inscríbete en el 7th Multifrequency AFM Conference !
http://www.icmm.csic.es/multifrequency-afm/
Fechas: Madrid, Abril 18th – 20th , 2018
Lugar: Hotel Eurostars Madrid Tower localizado en las Cuatro Torres of Madrid.
Paseo de la Castellana 259-B , 28046
Madrid (España)
Chairperson
Ricardo Garcia
Organizing Committee

Yu Kyoung Ryu
Carlos Álvarez Amo
Manuel Uhlig
 

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marzo 2018

Asylum Research quantifies the “last axis” in AFM

Por |marzo 5th, 2018|

«Oxford Instruments Asylum Research has developed an interferometric displacement sensor (IDS) that provides a direct measure of AFM cantilever displacement.
 
The IDS interfaces the existing optical system of the Asylum Research Cypher AFM with an external laser Doppler vibrometer.
 
According to the company, it does not replace the standard laser and detector; rather, it provides a […]

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febrero 2018

JORNADAS DE CIENCIA Y TECNOLOGÍA LIBS ESPAÑA

Por |febrero 12th, 2018|

» ES-LIBS es un encuentro que tiene por objetivo establecer un medio para la presentación de los avances en ciencia y tecnología LIBS en España. 
 

Dicho encuentro tendrá lugar los días 15 y 16 de febrero de 2018 en el Palacio de Ferias y Congresos de Málaga (Fycma) Avda. José Ortega y Gasset, 201 29006, Málaga.y […]

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enero 2018

MFP-3D Origin+ Atomic Force Microscope

Por |enero 18th, 2018|

                                                                       
MFP-3D Origin + Microscopio de Fuerza Atómica

Alto rendimiento y amplias capacidades a un precio competitivo en […]

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Heidelberg Instruments Delivers High-Resolution DWL 66+ Lithography System to NASA’s Goddard Space Flight Center in Greenbelt

Por |enero 11th, 2018|

«Heidelberg Instruments Mikrotechnik GmbH, the leading supplier of maskless optical lithography systems, is proud to announce the delivery of a DWL 66+ direct write lithography system with the high-resolution mode to NASA’s Goddard Space Flight Center in Greenbelt, MD.
The high-resolution mode allows the user to pattern features down to 300nm features size. It is […]

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noviembre 2017

ULTIMOS AVANCES EN LA MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA (AFM)

Por |noviembre 15th, 2017|

Julien Lopez (PhD) de Asylum Reseach (Oxford Instruments) presentará las últimas novedades sobre la Microscopia de Fuerza Atómica (AFM). Nuevos modos de medida como el Video-Rate AFM o nuevas aplicaciones como el análisis de materiales 2D o la caracterización de películas delgadas, son algunos de los temas, además de los últimas publicaciones en PFM […]

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WORKSHOP ON NANOMECHANICAL PROPERTIES

Por |noviembre 8th, 2017|

Organizado por:

 
Fecha:    Miércoles 15 de Noviembre 2017                        Hora:      9.30 – 16.30                                            Lugar:    Imdea Materiales 
           Un año más hemos preparado un encuentro para todos los investigadores que están trabajando en el campo de las propiedades nanomecánicas de los materiales
             Se presentarán los últimos trabajos de investigación que utilizan nuestra tecnología.
             Gracias a las […]

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febrero 2017

Espesor de películas delgadas/Espectrómetro

Por |febrero 22nd, 2017|

Medir el espesor de películas delgadas es una de las métricas más desafiantes y críticas en cualquier proceso de recubrimiento. Ensayos destructivos pueden utilizarse para medir el espesor de una película de una muestra representativa, sin embargo (además de la inconveniencia de un producto roto), el método de rotura puede afectar a la medición […]

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