Zeta Instruments ha desarrollado un nuevo Sistema de Perfilometría & Metrología totalmente novedoso gracias a su Tecnología Patentada Z-Dot™. Esta nueva patente aporta un gran número de ventajas respecto a los Perfiladores Ópticos Convencionales como Microscopía Confocal o Microscopía Interferométrica.

Los Sistemas Zeta-20 y Zeta-200 representan una nueva línea de instrumentación para Estudios de Perfilometría y Metrología que permiten realizar Análisis de todo tipo de Muestras en un Tiempo de Adquisición realmente Rápido (Menos de 1 minuto en la mayor parte de los casos):

  • Micro-Canales Encapsulados
  • Muestras con Superficies Muy Rugosas
  • Muestras con Superficies Muy Oscuras
  • Muestras con Surcos o Trincheras Muy Profundas
  • Superficies Muy Curvadas

La Tecnología Z-Dot™ representa un ántes y un después en los Sistemas de Perfilometría & Metrología ya  que permite Realizar Análisis No Destructivo de Muestras en Tiempos de Análisis Inferior a 1 minuto, donde no se requiere de Consumibles y no es necesario  un re-alineamiento o re-calibración frecuente del sistema (como en el caso de Microscopios Confocales e Interferométricos).

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