AFM Park NX20
La primera opción para el análisis de fallos
La herramienta líder de nanometrología para el estudio de grandes muestras
Como ingeniero de análisis de fallos, necesitas resultados precisos y confiables sin margen de error. El Park NX20 es reconocido como el AFM de muestras grandes más preciso del mundo, altamente valorado en la industria de semiconductores y discos duros por su exactitud en datos y su fiabilidad para investigaciones exigentes.
Soluciones de análisis de fallos más potentes
Mayor precisión, menor desgaste y más productividad
El Park NX20 incorpora características diseñadas para encontrar la causa de fallos y desarrollar soluciones innovadoras sin perder tiempo ni recursos.
- Modo de escaneo True Non‑Contact™ – Mantiene las puntas afiladas durante más tiempo, reduciendo costes.
- Datos de alta resolución – Permiten concentrarte en el análisis y no en el ajuste constante del equipo.
- Plataforma robusta – Proporciona estabilidad excepcional incluso en análisis prolongados.
Fácil de usar incluso para ingenieros de nivel básico
Diseño intuitivo y automatizado para maximizar tu tiempo
El Park NX20 está pensado para reducir la curva de aprendizaje y la supervisión constante, de modo que puedas dedicar tu experiencia a resolver problemas complejos.
- Interfaz automatizada y sencilla – No requiere largos periodos de formación.
- Optimizado para equipos con ingenieros junior – Menor supervisión, mayor eficiencia.
- Enfoque en tareas críticas – Libera tiempo para análisis de fallos más profundos.
