AFM Park NX20 Lite
El sistema de AFM más asequible para medición y análisis de obleas
Potente, versátil y con las últimas prestaciones NX
El Park NX20 Lite es ideal para laboratorios compartidos con muestras diversas, investigadores que exploran múltiples variantes y equipos de análisis de fallos que trabajan en obleas. Su precio competitivo y su amplio conjunto de características lo convierten en uno de los AFM de muestras grandes con mejor relación calidad-precio de la industria.
Aumente su productividad con capacidades avanzadas
Escaneo automatizado y multimuestra para máxima eficiencia
El sistema MultiSample™ permite obtener imágenes de varias muestras en una sola pasada, optimizando tiempo y recursos.
- Captación automatizada de hasta 16 muestras individuales
- Platina XY totalmente motorizada con desplazamiento de 150 mm x 150 mm
- Mayor comodidad para laboratorios con alta rotación de muestras
Escaneo XY preciso mediante eliminación de diafonía
Arquitectura de escáner única para resultados confiables
El NX20 Lite ofrece mediciones sin curvatura de fondo, ideales para tareas exigentes de ingeniería y análisis de fallos.
- Dos escáneres de flexión XY y Z independientes y de bucle cerrado
- Escaneo XY plano y ortogonal, sin arco residual
- Medición de altura precisa sin necesidad de procesado de software
Duración de la punta y resolución mejoradas con True Non‑Contact™
Menor desgaste, mayor calidad de imagen
- Modo True Non‑Contact™ que prolonga la vida útil de la punta
- Velocidad rápida del servo Z para imágenes de alta resolución
- Protección de la muestra durante el análisis prolongado
Gama versátil de modos y opciones
Expansión futura y personalización según tus necesidades
- Amplio conjunto de modos de medición y caracterización
- Accesorios y actualizaciones opcionales para mayor capacidad
- Mediciones eléctricas avanzadas para análisis de fallos (FA)
Exploración XY ortogonal plana sin arco del escáner
Nanometrología precisa para retos complejos
- Tecnología Park Crosstalk Elimination
- Exploración XY perfectamente plana sin curvatura
- Precisión inigualable incluso en muestras ópticamente planas
