AFM de Alto Vacío Park NX-Hivac
Precisión extrema en entornos controlados
El Park NX-Hivac es un microscopio de fuerza atómica de alto vacío diseñado para el análisis de fallos y el estudio de materiales sensibles a la atmósfera. Su entorno controlado ofrece mayor precisión, mejor repetibilidad y reduce el daño en la punta y la muestra frente a condiciones ambientales o incluso de N₂ seco. Esto permite detectar con más claridad respuestas de señal complejas, como la concentración de dopante mediante microscopía de resistencia de barrido (SSRM).
Gracias a su funcionamiento en vacío libre de oxígeno y otros contaminantes, el NX-Hivac está optimizado para aplicaciones que exigen mediciones de ultra alta resolución y sensibilidad. Es la herramienta ideal para investigadores que requieren resultados fiables y estables en entornos extremos, consolidándose como una solución de referencia en análisis de fallos, semiconductores y ciencia de materiales.
Automatización avanzada para mayor productividad
Funciones diseñadas para ahorrar tiempo y evitar errores
StepScan con platina motorizada
- Programa escaneos automáticos en múltiples puntos con solo 5 pasos.
- Aumenta la productividad con mínima intervención manual.
Alineación láser motorizada
- Ajuste automático del láser sin intervención humana al cambiar la punta.
- Integración perfecta con rutinas automatizadas.
Componentes de precisión para mediciones exactas
Escaneos sin desviaciones y con fidelidad nanométrica
Escáneres de bucle cerrado (XY y Z)
- Escaneo XY plano con error fuera de plano < 1 nm
- Escáner Z con 15 µm de rango y < 0.5% de no linealidad
Sensores XYZ de bajo ruido
- Detector Z de alta sensibilidad
- Mínima distorsión hacia adelante/atrás (< 0,15%)
Controlador digital de última generación
Electrónica de 24 bits para mediciones rápidas y precisas
- Unidad de procesamiento digital de alta velocidad
- Ideal para imágenes nanométricas y medición precisa de tensión/corriente
- Compatible con el modo True Non-Contact™
Aplicaciones principales
- Ciencia de los materiales
- Análisis de fallos
- Análisis de semiconductores
- Análisis de discos duros
