Espectrómetro AFM-IR
Espectroscopia AFM- IR a nanoescala integrada en AFM para la caracterización avanzada de materiales
Los espectrómetros Park AFM-IR integran a la perfección la microscopía de fuerza atómica (AFM) con la tecnología de microscopía de fuerza fotoinducida (PiFM). Estas plataformas innovadoras ofrecen mapeo de vibraciones moleculares a escala nanométrica mientras mantienen capacidades completas de AFM para análisis topográficos, nanomecánicos, eléctricos y térmicos integrales.
Con el modo PiFM que permite la caracterización simultánea de la composición química y la topografía de la superficie, los espectrómetros Park AFM-IR son ideales para la espectroscopia IR a nanoescala y la obtención de imágenes en semiconductores, polímeros, películas delgadas, materiales 2D y otros materiales avanzados.
Flujo de trabajo automatizado optimizado para mediciones IR a nanoescala
automatización avanzada diseñada específicamente para mediciones IR
- Alineación de haz IR totalmente automatizada
- Uso de la propia señal PiFM como retroalimentación en tiempo real para localizar la posición óptima del haz
Alineación automática del haz IR con tecnología SmartScan™
- Identificación automática de la posición de PiFM con mayor intensidad
- Maximización de la calidad de la señal
Mediciones IR sin contacto™ reales
mediciones infrarrojas totalmente sin contacto
- Eliminación del daño de la muestra
- Resolución espacial inferior a 5 nm
Modos de detección seleccionables para microscopía de fuerza fotoinducida (PiFM)
- Modo Directo para muestra más amplias o profundas
- Modo de banda lateral para superficies complejas o heterogéneas
Frecuencia de detección optimizada para imágenes PiFM estables
Escaneando automático de un rango de frecuencia estrecho
- frecuencia de detección óptima
- Sistema alineado durante el todo el escaneo
- Reduce artefactos y mejora la relación señal-ruido (SNR)
Aplicaciones principales
- Ciencia de los materiales
- Análisis de fallos
- Análisis de semiconductores
- Análisis de discos duros
