[:es]Caracterización de grafeno usando XPS – PHI VersaProbe III[:]

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El PHI VersaProbe III presenta múltiples herramientas analíticas para caracterizar materiales bidimensionales como el grafeno. Consulte esta nota de aplicación con XPS & REELS para caracterizar #Graphene con el PHI VersaProbe III.

#surfaceanalysis hashtag#materialcharacterization hashtag#physicalelectronics

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