Nanomecánica in situ en (TEM) Microscopio electrónico de transmisión

Por |septiembre 20th, 2018|

 
Jueves, 18 de octubre
8:00 PDT | 11:00 a.m. EDT | 15:00 GMT
La prueba nanomecánica in situ dentro de un microscopio electrónico de transmisión (TEM) proporciona una visión única de la dinámica del material a escala micrométrica, nanométrica y atómica.
Los recientes avances en el diseño del soporte nanomecánico, técnicas de microscopía y la tecnología del […]