febrero 2017

Espesor de películas delgadas/Espectrómetro

Por |febrero 22nd, 2017|

Medir el espesor de películas delgadas es una de las métricas más desafiantes y críticas en cualquier proceso de recubrimiento. Ensayos destructivos pueden utilizarse para medir el espesor de una película de una muestra representativa, sin embargo (además de la inconveniencia de un producto roto), el método de rotura puede afectar a la medición […]

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Zoom zoom: High speed AFM imaging

Por |febrero 20th, 2017|

«Zoom zoom: High speed AFM imaging

 
 

C Parmenter on 06 February, 2017.

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Oxford Instruments Asylum Research Announces the New Cypher VRS Video-Rate Atomic Force Microscope

Por |febrero 20th, 2017|

 
 » Published on February 6, 2017 at 4:23 AM

Written by AZoNanoFeb 6 2017
Oxford Instruments Asylum Research announces the new Cypher VRS Video-Rate AFM, the first and only full-featured video-rate atomic force microscope (AFM). The Cypher VRS sets a new benchmark for speed, enabling high resolution imaging of dynamic events at up to 625 lines/second, […]

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