Webinar «Next Generation Metrology and Inspection»

Por |noviembre 11th, 2013|

El próximo jueves 21 de Noviembre tendrá lugar un webinar gratuito sponsorizado por Zeta Instruments y con título «Next Generation Metrology and Inspection».
El escalado continuado así como los dispositivos de estructuras más complejas (incluyendo FinFETs y apilados 3D) están creando nuevos retos en la metrología e inspección. Cada vez existen defectos más pequeños que […]