agosto 2011

Análisis de todo tipo de Superficies con la Tecnología Z-Dot™

Por |agosto 22nd, 2011|

Zeta Instruments ha desarrollado un nuevo Sistema de Perfilometría & Metrología totalmente novedoso gracias a su Tecnología Patentada Z-Dot™. Esta nueva patente aporta un gran número de ventajas respecto a los Perfiladores Ópticos Convencionales como Microscopía Confocal o Microscopía Interferométrica.

Los Sistemas Zeta-20 y Zeta-200 representan una nueva línea de instrumentación para Estudios de Perfilometría […]

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Nueva fase estacionaria quiral inmovilizada CHIRALPAK ID de Chiral Technologies

Por |agosto 5th, 2011|

Chiral  Technologies anuncia la disponibilidad de una nueva fase estacionaria quiral inmovilizada (chiral stationary phase, CSP), CHIRALPAK ID. Esta fase estacionaria es la cuarta parte de la familia de la tecnología quiral inmovilizada. Este nuevo selector proporciona un mecanismo de reconocimiento enantiomérico novedoso, totalmente complementario a las tres anteriores fases estacionarias quirales inmovilizadas: CHIRALPAK […]

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