nanotofnanoTOF

La espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) con la incorporación de la técnica de tiempo de vuelo (ToF), emerge como una herramienta analítica importante. Su avanzada tecnología ofrece una única combinación de sensibilidad, resolución espacial e identificación química. El nanoTOF eleva la técnica de SIMS-TOF a un nivel superior gracias a su rendimiento superior y el revolucionario modo de preparación de la muestra.