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Inscríbete en el 7th Multifrequency AFM Conference

Inscríbete en el 7th Multifrequency AFM Conference !
http://www.icmm.csic.es/multifrequency-afm/
Fechas: Madrid, Abril 18th – 20th , 2018
Lugar: Hotel Eurostars Madrid Tower localizado en las Cuatro Torres of Madrid.
Paseo de la Castellana 259-B , 28046
Madrid (España)
Chairperson
Ricardo Garcia
Organizing Committee

Yu Kyoung Ryu
Carlos Álvarez Amo
Manuel Uhlig
 

Por |abril 3rd, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en Inscríbete en el 7th Multifrequency AFM Conference

Asylum Research quantifies the “last axis” in AFM

“Oxford Instruments Asylum Research has developed an interferometric displacement sensor (IDS) that provides a direct measure of AFM cantilever displacement.
 
The IDS interfaces the existing optical system of the Asylum Research Cypher AFM with an external laser Doppler vibrometer.
 
According to the company, it does not replace the standard laser and detector; rather, it provides a […]

Por |marzo 5th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en Asylum Research quantifies the “last axis” in AFM

JORNADAS DE CIENCIA Y TECNOLOGÍA LIBS ESPAÑA

” ES-LIBS es un encuentro que tiene por objetivo establecer un medio para la presentación de los avances en ciencia y tecnología LIBS en España. 
 

Dicho encuentro tendrá lugar los días 15 y 16 de febrero de 2018 en el Palacio de Ferias y Congresos de Málaga (Fycma) Avda. José Ortega y Gasset, 201 29006, Málaga.y […]

Por |febrero 12th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en JORNADAS DE CIENCIA Y TECNOLOGÍA LIBS ESPAÑA

MFP-3D Origin+ Atomic Force Microscope

                                                                       
MFP-3D Origin + Microscopio de Fuerza Atómica

Alto rendimiento y amplias capacidades a un precio competitivo en […]

Por |enero 18th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en MFP-3D Origin+ Atomic Force Microscope

Heidelberg Instruments Delivers High-Resolution DWL 66+ Lithography System to NASA’s Goddard Space Flight Center in Greenbelt

“Heidelberg Instruments Mikrotechnik GmbH, the leading supplier of maskless optical lithography systems, is proud to announce the delivery of a DWL 66+ direct write lithography system with the high-resolution mode to NASA’s Goddard Space Flight Center in Greenbelt, MD.
The high-resolution mode allows the user to pattern features down to 300nm features size. It is […]

Por |enero 11th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en Heidelberg Instruments Delivers High-Resolution DWL 66+ Lithography System to NASA’s Goddard Space Flight Center in Greenbelt

ULTIMOS AVANCES EN LA MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA (AFM)

Julien Lopez (PhD) de Asylum Reseach (Oxford Instruments) presentará las últimas novedades sobre la Microscopia de Fuerza Atómica (AFM). Nuevos modos de medida como el Video-Rate AFM o nuevas aplicaciones como el análisis de materiales 2D o la caracterización de películas delgadas, son algunos de los temas, además de los últimas publicaciones en PFM […]

Por |noviembre 15th, 2017|sin categoria|Comentarios desactivados en ULTIMOS AVANCES EN LA MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA (AFM)

WORKSHOP ON NANOMECHANICAL PROPERTIES

Organizado por:

 
Fecha:    Miércoles 15 de Noviembre 2017                        Hora:      9.30 – 16.30                                            Lugar:    Imdea Materiales 
           Un año más hemos preparado un encuentro para todos los investigadores que están trabajando en el campo de las propiedades nanomecánicas de los materiales
             Se presentarán los últimos trabajos de investigación que utilizan nuestra tecnología.
             Gracias a las […]

Por |noviembre 8th, 2017|sin categoria|Comentarios desactivados en WORKSHOP ON NANOMECHANICAL PROPERTIES

Workshop Nanolito 2017 Madrid 23-25 de Octubre

 IMDEA Nanoscience, con la colaboración de Irida Ibérica, entre otros partners presentan el Nanolito network 2017. El 7º Spanish Workshop en Nanolitografía en Madrid los días 23-25 de Octubre de 2017.
Irida acudirá con el perfilómetro óptico Z-20 de la empresa Zeta Instruments. Zeta-20™ es un perfilometro óptico completamente integrado que realiza metrología e imágenes […]

Por |octubre 12th, 2017|General, Nanofabrication|Comentarios desactivados en Workshop Nanolito 2017 Madrid 23-25 de Octubre

Regístrese hoy para nuestra presentación webinar sobre espectroscopia Raman
La microscopía y la obtención de imágenes Raman están demostrando ser una valiosa técnica para la caracterización de grafenos, biomateriales y otras nanotecnologías encontradas en la investigación de ciencias de los materiales. A diferencia de la mayoría de las técnicas de caracterización, el Raman es extremadamente […]

Por |abril 7th, 2017|sin categoria|Comentarios desactivados en

Espesor de películas delgadas/Espectrómetro

Medir el espesor de películas delgadas es una de las métricas más desafiantes y críticas en cualquier proceso de recubrimiento. Ensayos destructivos pueden utilizarse para medir el espesor de una película de una muestra representativa, sin embargo (además de la inconveniencia de un producto roto), el método de rotura puede afectar a la medición […]

Por |febrero 22nd, 2017|sin categoria|Comentarios desactivados en Espesor de películas delgadas/Espectrómetro