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Propiedades mecánicas de nano a macro

Mechanical Properties (003)
 

Por |junio 4th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en Propiedades mecánicas de nano a macro

LÍDER EN FOTOLITOGRAFÍA

El Maskless Aligner MLA150 lidera el futuro de la fotolitografía:
Ya no se necesita una fotomáscara para crear un patrón, sino que simplemente expone su diseño directamente en su oblea recubierta. Cualquier cambio en su patrón se puede acomodar fácilmente; a diferencia del uso de un alineador de máscaras, en este caso no es necesario […]

Por |mayo 28th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en LÍDER EN FOTOLITOGRAFÍA

Protochips Apertura de Nueva oficina en Europa

Protochips, una compañía de sistemas in situ en microscopía electrónica, anunció la apertura oficial de su oficina europea,
Protochips EMEA GmbH.

La nueva sede permitirá a Protochips brindar un mejor servicio a los clientes en toda Europa y Medio Oriente, con un servicio dedicado, soporte de aplicaciones, marketing y equipos de ventas. Esta nueva oficina atenderá […]

Por |abril 26th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en Protochips Apertura de Nueva oficina en Europa

Asylum Research Quantifies the “Last Axis” in Atomic Force Microscopy

“Histograms of the piezoelectric sensitivity, deff, for five different cantilevers measured with OBD and with IDS. Electrostatic forces between the sample and the body of the cantilever cause the cantilever to oscillate. The resulting changes in the cantilever slope are faithfully reported by the OBD, overwhelming the true electromechanical response of the sample.
Oxford Instruments […]

Por |abril 25th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en Asylum Research Quantifies the “Last Axis” in Atomic Force Microscopy

Inscríbete en el 7th Multifrequency AFM Conference

Inscríbete en el 7th Multifrequency AFM Conference !
http://www.icmm.csic.es/multifrequency-afm/
Fechas: Madrid, Abril 18th – 20th , 2018
Lugar: Hotel Eurostars Madrid Tower localizado en las Cuatro Torres of Madrid.
Paseo de la Castellana 259-B , 28046
Madrid (España)
Chairperson
Ricardo Garcia
Organizing Committee

Yu Kyoung Ryu
Carlos Álvarez Amo
Manuel Uhlig
 

Por |abril 3rd, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en Inscríbete en el 7th Multifrequency AFM Conference

Asylum Research quantifies the “last axis” in AFM

“Oxford Instruments Asylum Research has developed an interferometric displacement sensor (IDS) that provides a direct measure of AFM cantilever displacement.
 
The IDS interfaces the existing optical system of the Asylum Research Cypher AFM with an external laser Doppler vibrometer.
 
According to the company, it does not replace the standard laser and detector; rather, it provides a […]

Por |marzo 5th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en Asylum Research quantifies the “last axis” in AFM

JORNADAS DE CIENCIA Y TECNOLOGÍA LIBS ESPAÑA

” ES-LIBS es un encuentro que tiene por objetivo establecer un medio para la presentación de los avances en ciencia y tecnología LIBS en España. 
 

Dicho encuentro tendrá lugar los días 15 y 16 de febrero de 2018 en el Palacio de Ferias y Congresos de Málaga (Fycma) Avda. José Ortega y Gasset, 201 29006, Málaga.y […]

Por |febrero 12th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en JORNADAS DE CIENCIA Y TECNOLOGÍA LIBS ESPAÑA

MFP-3D Origin+ Atomic Force Microscope

                                                                       
MFP-3D Origin + Microscopio de Fuerza Atómica

Alto rendimiento y amplias capacidades a un precio competitivo en […]

Por |enero 18th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en MFP-3D Origin+ Atomic Force Microscope

Heidelberg Instruments Delivers High-Resolution DWL 66+ Lithography System to NASA’s Goddard Space Flight Center in Greenbelt

“Heidelberg Instruments Mikrotechnik GmbH, the leading supplier of maskless optical lithography systems, is proud to announce the delivery of a DWL 66+ direct write lithography system with the high-resolution mode to NASA’s Goddard Space Flight Center in Greenbelt, MD.
The high-resolution mode allows the user to pattern features down to 300nm features size. It is […]

Por |enero 11th, 2018|sin categoria|Comentarios desactivados en Heidelberg Instruments Delivers High-Resolution DWL 66+ Lithography System to NASA’s Goddard Space Flight Center in Greenbelt

ULTIMOS AVANCES EN LA MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA (AFM)

Julien Lopez (PhD) de Asylum Reseach (Oxford Instruments) presentará las últimas novedades sobre la Microscopia de Fuerza Atómica (AFM). Nuevos modos de medida como el Video-Rate AFM o nuevas aplicaciones como el análisis de materiales 2D o la caracterización de películas delgadas, son algunos de los temas, además de los últimas publicaciones en PFM […]

Por |noviembre 15th, 2017|sin categoria|Comentarios desactivados en ULTIMOS AVANCES EN LA MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA (AFM)