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Workshop Nanolito 2017 Madrid 23-25 de Octubre

 IMDEA Nanoscience, con la colaboración de Irida Ibérica, entre otros partners presentan el Nanolito network 2017. El 7º Spanish Workshop en Nanolitografía en Madrid los días 23-25 de Octubre de 2017.
Irida acudirá con el perfilómetro óptico Z-20 de la empresa Zeta Instruments. Zeta-20™ es un perfilometro óptico completamente integrado que realiza metrología e imágenes […]

Por |octubre 12th, 2017|General, Nanofabrication|Comentarios desactivados en Workshop Nanolito 2017 Madrid 23-25 de Octubre

Regístrese hoy para nuestra presentación webinar sobre espectroscopia Raman
La microscopía y la obtención de imágenes Raman están demostrando ser una valiosa técnica para la caracterización de grafenos, biomateriales y otras nanotecnologías encontradas en la investigación de ciencias de los materiales. A diferencia de la mayoría de las técnicas de caracterización, el Raman es extremadamente […]

Por |abril 7th, 2017|sin categoria|Comentarios desactivados en

Espesor de películas delgadas/Espectrómetro

Medir el espesor de películas delgadas es una de las métricas más desafiantes y críticas en cualquier proceso de recubrimiento. Ensayos destructivos pueden utilizarse para medir el espesor de una película de una muestra representativa, sin embargo (además de la inconveniencia de un producto roto), el método de rotura puede afectar a la medición […]

Por |febrero 22nd, 2017|sin categoria|Comentarios desactivados en Espesor de películas delgadas/Espectrómetro

Zoom zoom: High speed AFM imaging

“Zoom zoom: High speed AFM imaging

 
 

C Parmenter on 06 February, 2017.

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Cryomicroscopy – just getting warmed up!

 
Imaging with an AFM […]

Por |febrero 20th, 2017|sin categoria|Comentarios desactivados en Zoom zoom: High speed AFM imaging

Oxford Instruments Asylum Research Announces the New Cypher VRS Video-Rate Atomic Force Microscope

 
 ” Published on February 6, 2017 at 4:23 AM

Written by AZoNanoFeb 6 2017
Oxford Instruments Asylum Research announces the new Cypher VRS Video-Rate AFM, the first and only full-featured video-rate atomic force microscope (AFM). The Cypher VRS sets a new benchmark for speed, enabling high resolution imaging of dynamic events at up to 625 lines/second, […]

Por |febrero 20th, 2017|sin categoria|Comentarios desactivados en Oxford Instruments Asylum Research Announces the New Cypher VRS Video-Rate Atomic Force Microscope

Zeta Instruments Destacado en el PBS Nova Show “Tesoros de la Tierra”

“El PBS Nova Show Tesoros de la Tierra: Power ha presentado el Zeta-20 Optical Profiler y Zeta Wafers

Las posibilidades de la energía solar ahora están siendo minadas alrededor del mundo. En los últimos cinco años, el número de paneles solares ha aumentado globalmente en un promedio de 25% al año.
El principal objetivo de los […]

Por |diciembre 1st, 2016|sin categoria|Comentarios desactivados en Zeta Instruments Destacado en el PBS Nova Show “Tesoros de la Tierra”

Asylum Research delivers electrochemistry cell for AFM

http://www.microscopy-analysis.com/editorials/editorial-listings/asylum-research-delivers-electrochemistry-cell-afm

 

“Oxford Instruments Asylum Research announces the availability of the new Electrochemistry Cell for studying electrochemical reactions in situ, including processes such as deposition, oxidation, corrosion and mass transfer of metals and other materials at the nanoscale.
 
“The Electrochemistry Cell leverages the advanced performance of the Cypher ES AFM and adds impressive new functionality for electrochemistry […]

Por |noviembre 26th, 2016|sin categoria|Comentarios desactivados en Asylum Research delivers electrochemistry cell for AFM

Seminario en soluciones in situ en Microscopio Electrónico de Transmisión TEM: Capacidades y Aplicaciones

Nuevas innovaciones transforman un Microscopio Electrónico de Transmisión TEM desde una simple herramienta de adquisición de imágenes de alta resolución a un laboratorio de investigación y desarrollo de materiales a nano escala
Es fundamental comprender mejor el comportamiento de un material mediante el análisis de muestras en entornos de gases o líquidos reales, a alta temperatura o con técnicas […]

Por |noviembre 22nd, 2016|sin categoria|Comentarios desactivados en Seminario en soluciones in situ en Microscopio Electrónico de Transmisión TEM: Capacidades y Aplicaciones

Perfilómetro Óptico Zeta-20

http://www.azosensors.com/article.aspx?ArticleID=708

Por |octubre 31st, 2016|sin categoria|Comentarios desactivados en Perfilómetro Óptico Zeta-20

Digital Surf lanza un Software revolucionario para colorización de imágenes SEM

La microscopía de barrido electrónico (SEM) se utiliza de forma convencional en diversos campos de la industria y la ciencia debido a que es una de las técnicas de imagen más versátiles. Los SEMs permiten a los usuarios visualizar objetos pequeños hasta 1000 veces más que en microscopios convencionales.          Digital Surf (Francia) lanza Mountains Map™ SEM […]

Por |febrero 10th, 2016|sin categoria|Comentarios desactivados en Digital Surf lanza un Software revolucionario para colorización de imágenes SEM