La combinación de Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), Microscopía Confocal Raman/Fluorescencia, Microscopía Rayleigh y Microscopía de Campo Cercano (SNOM) proporcionan una oportunidad única para la investigación de Grafeno.
Las diferentes técnicas AFM permiten el estudio de las propiedades mecánicas, eléctricas, magnéticas e incluso propiedades elásticas de finas láminas de Grafeno. También es posible el estudio de otras propiedades como conductividad, capacitancia y piezorespuesta. Al mismo tiempo, la Microscopía Raman (disponible simultáneamente con AFM) proporciona información sobre el espesor de las láminas de grafeno, información sobre la uniformidad estructural, presencia de impurezas, defectos, etc… La imagen Reyleigh y SNOM mide las propiedades ópticas locales de la muestra proporcionando información sobre la estructura de las láminas.
Es importante señalar que la mayoría de las medidas pueden realizarse bajo condiciones atmosféricas controladas: humedad y temperatura variable, ensayos en líquido e incluso (en algunas configuraciones) en ambiente electroquímico y campo magnético externo.
Desde IRIDA le invitamos a que se descarge este pequeño dossier científico donde se abordan todos estos experimentos en muestras de grafeno, donde podrá descubrir una aproximación en resolución espacial cercana a 15 nm mediante experimentos TERS.
Descarga: Booklet Grafeno